옵티머스 2
향상된 TKD 검출기 헤드
브루커의 업계 최고의 TKD 솔루션은 더 좋아졌습니다!
당사의 새로운 증강 TKD 솔루션은 여러 개의 새로운 하드웨어 옵션, 액세서리 및 소프트웨어 기능을 추가하여 기존 축 TKD의 타의 추종을 불허하는 성능을 기반으로 합니다. 가장 중요한 변화는 덴마크의 DTU Nanolab과의 지속적인 협력의 결과인 OPTIMUS 2 검출기 헤드의 출시입니다. 새로운 이미징 기능과 새롭고 혁신적인 소프트웨어 기능과 결합된 향상된 설계를 통해 다음을 가능하게 합니다.
- 내부 실험을 위한 새로운 분석 기능
- 이전보다 더 나은 공간 해상도에 도달
- 탁월한 데이터 품질 및 데이터 무결성
- 향상된 사용자 경험
- 특정 애플리케이션의 생산성 향상
옵티머스 2의 주요 특징
- 브라이트 필드 (BF)와 같은 이미징의 중심에 시 다이오드가있는 옵티머스 Vue 화면
- e-빔과의 간섭을 최소화할 수 있는 고급 합금
- 향상된 신호 품질을 위해 스크린 활성 층 구조에 새로운 박막 추가
- 향상된 사용자 환경을 위한 최적화된 화면 프레임 설계
- 옵티머스 2는 표준 TKD 화면과 계속 호환됩니다(중앙 다이오드 제외)
EDS 및 TKD 매핑과 결합된 SEM의 STEM
OPTIMUS Vue의 중앙 다이오드는 밝은 필드(BF)와 같은 이미징 기능을 제공하는 한편, 온축 TKD 매핑 위치에 있어 새로운 적용 가능성을 위한 길을 열어주며 나노 물질 및 나노 구조를 특성화할 때 전반적인 시스템 성능을 더욱 향상시춥니다.
옵티머스 Vue의 SEM 기능에서 새로운 STEM의 주요 이점
- TKD 맵을 획득하기 전에 빔 초점 과 난시 설정을 최적화하기에 이상적인 조건을 제공하는 OPTIMUS Vue의 중앙 다이오드를 통해 향상된 공간 해상도를 제공합니다.
- 시간 해결 측정을 위한 새로운 ESPRIT TRM 기능을 사용하여 SEM에서 의 내 시차 실험 중 전자 투명 시료의 거의 실시간 시각화.
- 향상된 데이터 무결성 – 고품질 및 높은 디테일 BF와 같은 이미지는 ESPRIT 드리프트 교정 기능에서 사용하는 이미지 상관 알고리즘에 이상적인 입력 데이터입니다. 드리프트 보정 정확도의 결과 이득은 TKD 맵에 특히 도움이 될 것이며, 수십 나노미터의 빔 또는 샘플 드리프트조차도 맵에서 보이는 아티팩트를 생성합니다.
- 생산성 향상 – BF와 같은 이미지는 새로운 ESPRIT MaxYield 기능을 사용하여 비나화할 수 있으며, 이후 나노 입자 나 나노로드와 같은 희소한 샘플에 대한 관심 영역을 효율적으로 매핑하기 위한 마스크로 사용할 수 있습니다.
- 새로운 ESPRIT FIL TKD(풀 몰입 렌즈 TKD) 기능의 교정 절차 중 편리성, 효율성 및 성공은 사상 처음으로 전체 침수 렌즈 모드를 사용하는 TKD 매핑을 가능하게 하며, 특정 전자 컬럼의 초고해상도(UHR) 모드로도 알고 있습니다.
이미지는 아론 린덴버그와 미국 스탠포드 대학에서 그의 그룹의 호의입니다
