OPTIMUS 2
強化されたTKD検出器ヘッド
業界をリードするブルカーのTKDソリューションがさらに進化しました
ブルカーの新しい拡張TKDソリューションは、複数の新しいハードウェアオプション、アクセサリ、およびソフトウェア機能を追加して、既存のオンアクシスTKDの比類のない性能を実現しています。最も重要な変更点は、デンマークのDTU Nanolabとの継続的なコラボレーションによる、OPTIMUS 2検出器ヘッドのリリースです。新しいイメージング機能と革新的なソフトウェア機能を組み合わせた設計の改善により、以下の機能が可能になります。
- in-situ実験のための新しい分析機能
- 以前よりも優れた空間分解能
- 優れたデータ品質とデータ整合性
- ユーザーエクスペリエンスの向上
- 特定のアプリケーションにおける生産性の大幅な向上
OPTIMUS 2の主な特長
- 明視野(BF)のようなイメージジングのために、中心にSiダイオードを備えたOPTIMUS Vueスクリーン
- 電子ビームとの干渉を最小限に抑えるための高度な合金
- 信号品質を向上させるスクリーンアクティブ層構造の薄膜を追加
- ユーザーエクスペリエンスを向上させるために最適化された画面フレーム設計
- OPTIMUS 2は標準TKDスクリーン(センターダイオードなし)と互換性があります
EDSおよびTKDマッピングを組み合わせたSEMのSTEM
OPTIMUS Vueのセンターダイオードは、オンアクシスTKDのマッピング位置でナノ材料やナノ構造を特徴付ける際に、新しいアプリケーションの可能性を開き、システム全体の性能をさらに向上させながら、明視野(BF)のようなイメージング機能を提供します。
SEMのSTEMにおけるOPTIMUS Vueの主な利点
- OPTIMUS Vueのセンターダイオードによる空間分解能の向上。TKDマップを取得する前に、ビームフォーカスと乱視設定を最適化するための理想的な条件を提供します。
- 時間分解測定のための新しいESPRIT TRM 機能を使用し、SEMでのin-situ 実験中に電子透過サンプルをほぼリアルタイムで視覚化。
- データの整合性の向上 – 高品質で詳細な BFのような画像は、ESPRIT Drift Correction機能(ドリフト補正機能)で使用される画像相関アルゴリズムへの理想的な入力データです。わずか数十ナノメートルのビームまたはサンプルドリフトでさえマップ内に目に見えるアーティファクトを作成するTKDマップにとっては、得られるドリフト補正精度の向上は特に有益です。
- 生産性の向上 – BF のような画像は、新しい ESPRIT MaxYield 機能を使用して二項化でき、その後ナノ粒子やナノロッドなどのまばらなサンプル上の所定の領域を効率的にマッピングするためのマスクとして使用できます。
- 新しい ESPRIT FIL TKD (フルイマージョンレンズ TKD) 機能のキャリブレーション手順中の利便性や効率によって、特定の電子カラムでフルイマージョンレンズ モード（超高解像度 (UHR) モード）を使用した TKD マッピングを可能にします。
画像はアーロン・リンデンバーグとアメリカのスタンフォード大学の彼のグループの礼儀です
