XFlash 6-30
다재다능한 중형 SDD
XFlash 6-30 검출기
XFlash® 6-30은 우수한 에너지 해상도와 30mm2 액티브 영역 칩의 더 큰 단색 각도를 결합합니다. 이를 통해 조명 요소 분석부터 빠른 매핑 및 결합된 EDS 및 EBSD 측정에 이르기까지 EDS 응용 프로그램의 전체 스펙트럼에서 검출기를 사용하려는 분석가에게 매우 매력적입니다. XFlash® 6-30은 빠른 결과를 제공할 것입니다.
요약하면 XFlash® 6-30은 다음과 같은 장점을 제공합니다.
- XFlash® 6-30 우수한 에너지 해상도 (Mn Kα에서 123 eV, C Kα에서 45 eV, F Kα에서 53 eV 가능)
- 기타 사용 가능한 해상도는 Mn Kα에서 126 eV 및 129 eV입니다.
- 매우 높은 펄스 부하 기능
- 우수한 광원 요소 및 낮은 에너지 성능 (Be - Am 요소 범위)
- 정교한 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 낮은 운영 비용
- 유지보수 가 없는 작동
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 작은 치수
- 저중량
XFlash® 6-30에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- SEM, 마이크로 프로브, FIB-SEM용 EDS 시스템(옵션으로 제공되는 용접 벨로우즈)
- eFlash FS와 결합된 EDS 및 빠른 EBSD 분석
- 빠른 요소 매핑