XFlash 6-30
多功能中型 SDD
XFlash 6-30 探测器
XFlash® 6-30 结合了出色的能量分辨率和 30 mm2 有效芯片面积的较大固体角度。这使得这款产品可以覆盖 EDS 全部应用，从轻元素分析到快速采集以及 EDS 和 EBSD 同步测量。XFlash® 6-30 一定会提供快速的结果。
总结起来，XFlash® 6-30 具有以下优点：
- XFlash® 6-30 出色的能量分辨率（Mn Kα 为 123 eV，C Kα 为 45 eV，F Kα 为 53 eV）
- 其他可用分辨率为 126 eV 和 129 eV（Mn Kα）
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
XFlash® 6-30建议的应用领域包括：
- 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选件提供）
- 将 EDS 和快速 EBSD 分析的 eFlash FS 探头相结合
- 快速元素面分析