XFlash 6-100
낮은 전류 응용 프로그램을 위한 가장 큰 영역 SDD
XFlash 6-100 검출기
매우 특별한 상황에서는 매우 특별한 탐지기가 필요합니다. XFlash® 6-100은 제한된 신호를 사용할 수 있는 이러한 상황에 대해 만들어집니다. 예를 들어 매우 민감한 샘플을 분석하거나 콜드 FEG SEM을 사용할 때의 경우와 같은 경우가 있습니다. 큰 100mm2 활성 영역과 좁은 끝 캡은 최대의 고체 각도를 제공하며 이러한 불리한 조건에서도 짧은 시간에 스펙트럼을 획득할 수 있습니다. 동시에 XFlash® 6-100은 작은 검출기(입력시 최대 1,500kcps)와 동일한 높은 수율 능력을 가지고 있어 EDS 분석을 위한 진정한 독특한 기기입니다.
요약하면 XFlash® 6-100은 다음과 같은 장점을 제공합니다.
- 좋은 에너지 해상도 (Mn Kα에서 129 eV, C Kα에서 57 eV, F Kα에서 67 eV)
- 매우 높은 펄스 부하 기능
- 좋은 광원 요소와 낮은 에너지 성능 (요소 범위 - Am)
- 정교한 진동 발생 냉각 시스템 없음
- 전원 켜기 직후 사용 가능
- 낮은 운영 비용
- 유지보수 가 없는 작동
- 작은 치수
- 슬림 라인 기술 손가락을 포함한 저중량
XFlash® 6-100에 대한 응용 프로그램의 권장 영역은 다음과 같습니다.
- SEM, 마이크로 프로브, FIB-SEM용 EDS 시스템(옵션으로 제공되는 용접 벨로우즈)
- 낮은 빔 전류 및 민감한 샘플 분석(콜드 필드 방출기가 있는 SEM)