XFlash 6-100
低电流应用的最大面积 SDD
XFlash 6-100 探测器
非常特殊的情况需要非常特殊的探测器。XFlash® 6-100 适用于信号有限的情况。例如，在分析非常敏感的样品或使用冷场发射 SEM 时。即使在这些不利条件下，100 mm2 有效面积和窄端盖提供最大的探测固体角，也可以在短时间内获取谱图数据。同时，XFlash® 6-100 具有与小型探测器相同的高计数速率功能（输入时高达 150万cps），因此成为 EDS 分析真正独特的仪器。
总结起来，XFlash® 6-100 具有以下优点：
- 良好的能量分辨率（Mn Kα 为 129 eV，C Kα 为 57 eV，F Kα 为 67 eV）
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
XFlash® 6-100建议的应用领域包括：
- 用于 SEM、电子探针、FIB-SEM 的 EDS 系统（焊接波纹管可作为选件提供）
- 低束流和敏感样品分析（冷场发射的 SEM）