新製品 Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置 nanoIR3-s ～散乱型 SNOM で出来ること・分かること～
～60分で学ぶ、実務に役立つ摩擦・摩耗の基礎知識と応用事例～
概要
Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置 nanoIR3-s は，原子間力顕微鏡上に散乱型 SNOM (Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy) とナノスケール赤外分光顕微鏡（AFM-IR）のシステムを統合した、新しい分析プラットフォームです。 光熱変換現象に基づく試料の熱膨張を分析する AFM-IR と，近接場光を利用した散乱型 SNOM，ナノスケール赤外分光分析において相補的な関係にある両測定モードを備えた nanoIR3-s は，ナノメートルスケールの空間分解能での IR スペクトル測定、ケミカルイメージング、そして、光学特性マッピングを実現し，有機材料から無機材料、生体試料、先端ナノ材料と幅広い材料の分析が可能となります。また，AFM 本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し，化学構造とリンクさせることも可能です。こうした総合的な材料評価により，これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。 本ウェビナーでは，Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置の最新機種である nanoIR3-s について，その測定原理から装置構成，そしてデモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます。
こんな方におすすめ
- 従来の顕微分光技術の分解能に満足出来ない方
- コンポジット材料や多層フィルム等の成分分析及び界面の状態を総合的に評価したい方
- ナノフォトニクス
- ナノプラズモニクス材料の光学特性分析をしたい方
- SNOM 装置に興味のある方
- nanoIR3 / nanoIR3-s がどのような装置が知りたい！
横川 雅俊
ナノ表面計測事業部 アプリケーション部