INVENIOの特徴
INVENIO拡張オプション
INVENIOは、24時間365日稼働する堅牢なワークステーションで、生産性を高める豊富な機能を備えています。スマートなソフトウェアモニタリングと、振動や熱の影響に強いRockSolidTM干渉計により、常に信頼性の高い結果を取得することができます。
ATRまたは透過測定用の独自の検出器を備えた、独立した第2測定試料室であるTransitTMチャンネルを増設することで、常に2つの測定光学系が準備されており、時間を節約することができます。メインの広い試料室には多数のアクセサリーを装着でき、あらゆる分析に対応します。比較的大きなサイズのアクセサリーも、Quicklockアクセサリーマウントのロック/リリースボタンで簡単に着脱できます。
異なる波数領域を測定するために光学パーツを交換することも容易ですが、中赤外から遠赤外までを一度に測定できるブルカーFMオプションを使用することで、パーツを交換することなく、また、中断することなく測定を行うことができます。
INVENIOは、精密な光学系と斬新なビーム経路から耐久性の高い外装に至るまで、新規高品質設計を採用しています。高いS/N比と最高波数分解能:0.085cm-1以上という優れた性能をもち、スペクトルの細部まで見ることができます。
しかし、INVENIOは高い分光精度を提供するだけでなく、機能性にも優れています。DigiTectTMスロットを活用することで、液体窒素冷却型検出器など、お好みの検出器を簡単に装着できます。5-in-1自動検出器ユニットMultiTectTMを使用すると、室温または電子冷却型検出器を最大5台まで追加できます。MutiTectTM検出器、DigiTectTMスロット、Transitチャンネルの併用により、INVENIOは最大7台の検出器を内蔵し、その切り替えをソフトウェア上で制御することができます。
アップグレードされたINTEGRALTM干渉計は、3ポジションビームスプリッタ自動切替機構を備えており、MultiTectTMと組み合わせた使用に最適です。これにより、28,000cm-1から15cm-1までの超広域の完全自動測定を、シングルクリックで実現します。光学パーツを手動で交換する必要はありません。
オールインワン分光分析ソフトウェアのOPUSは、INVENIOのオペレーションを初心者から熟練者まで、わかりやすく設計されています。
オプションの内蔵タッチスクリーンでOPUSを使用すると、直感的かつシンプルな操作で測定が可能です。一方、外付けPCを使用すると、高度なメソッド作成ツールなど、より多くの機能を活用できます。
どちらのバージョンも、膨大なスペクトル ライブラリや、標準的な作業のためのガイド付きワークフロー作成機能により、あらゆるレベルのユーザーをサポートします。
INVENIOは、お客様の分析ニーズに合わせてカスタマイズできるように設計されています。しかし、時にはニーズが変化し、装置の要求が変わることもあります。そのため、INVENIOのすべてのコア機能は、いつでも現場で簡単にアップグレードすることができます。
製薬
QA/QCの実施、薬品の安定性の調査、タンパク質の研究、多形の識別、錠剤のイメージングなど、すべての分析が1台の装置で行えます。もちろん、OPUSはすべての主要な国際薬局方および21 CFR part 11に準拠しています。さらに、データの完全性を保証するため、データの取り扱いはすべて安全です。
ポリマー
INVENIOは、研究開発からリサイクルに至るまで、ポリマーのライフサイクルのあらゆる段階において研究することができます。最終製品、多層ポリマー、コーティングなど、あらゆる形態のポリマーの同定と特性解析が可能です。INVENIOにTGA分析機能を拡張することで、ポリマーの分解物も分析することが可能となります。
化学
INVENIOは、化学物質の検証、同定、特性解析に最適な化学分析ツールです。時間分解測定を反応モニタリングやカイネティクス研究に使用し、触媒やバッテリーを実環境下で研究することができます。
材料とデバイスの開発
超広帯域を測定可能なINVENIOは、新素材、部品、光学デバイスのテストに最適です。有機化合物、無機化合物、金属有機錯体に加え、センサー素子やレーザーも徹底的に特性解析することが可能です。
半導体
INVENIOは、シリコンウェーハの品質管理からデバイス開発まで、半導体の開発全般にわたり使用することができます。拡張機能により、フォトルミネッセンス測定やFT-IRイメージングによる大型チップの迅速分析など、さらに多くの機能が追加されます。
学術研究
多くの高度な機能を備えたINVENIOは、研究用途にも最適なツールです。触媒反応の反応メカニズムの研究、新規エネルギー貯蔵技術の研究(分光電気化学)、基礎的なキラリティの研究などに活用できます。
RAM IIを用いたFT-ラマン
HYPERION IIを用いたFT-IR顕微鏡
NETZSCH TGA カップリング
HTS-XT を用いたハイスループットスクリーニング
新機能:測定後の自動データエクスポート
スペクトル測定データを取得後、各種ファイル形式に自動出力することができます。利用可能なファイル形式:データポイントテーブル、JCamp、Galactic、Pirouette、XML、Matlab 4、Matlab 5、imzML
新機能:新規アプリケーション専用のワークフローの追加
OPUS-TOUCH 5.1では、専用アクセサリーや特殊な解析方法での作業をさらに容易にする、新規アプリケーション専用のワークフローを提供します。
新機能:ハードウェアと測定メソッドを設定するためのグラフィカル・インターフェース
新規グラフィカル・ユーザー・インターフェースにより、測定メソッドの設定を直感的に行うことができます。
新機能:OVP-X(強化されたOPUSバリデーションプログラム)
OPUS 8.7では、OVP-Xが、FT-IR分光計 INVENIO の現在のOVPルーチンを引き継ぎます。OVP-Xを用いて、FT-IR分光計 INVENIO の校正、テスト、および認定を行います。INVENIOの全測定チャンネルの校正および認定管理を、包括的かつ信頼性高く、簡単に行うことができます。
新機能:OPUSにPythonスクリプトインターフェイスを実装
Pythonスクリプトを作成・実行し、ユーザーベースのメソッドをOPUS上で直接開発することが可能になりました。これにより、ユーザーはPythonをベースとした独自の解析ルーチンを作成することができます。Pythonは、産業界や科学業界においてプログラミングの標準として広く取り入れられており、ユーザーは分析ツールセットを高度に制御することが可能になります。
新機能:マルチスペクトルレンジ測定機能
INVENIO独自のMultiTectテクノロジーと、高精度ビームスプリッタ自動切替機構を搭載するINTEGRAL干渉計(オプション)を活用し、マルチスペクトルレンジ測定を高度に自動化するネイティブOPUS機能。 遠赤外域から紫外・可視域まで全自動で測定し、最終的に1本のスペクトルにマージすることが可能です。このソフトウェア機能は、VERTEX 分光計でも利用可能です。
当社のFT-IR分析装置とソリューションの詳細については、こちらから資料をご確認頂けます。