FT-IR 光谱仪

INVENIO®

INVENIO旨在实现从常规质量控制到先进研发等多个领域的创新。无论您需要专注于提高生产力或精度,还是必须遵守各种法规,INVENIO都将给您带来全方位的支持。

灵活的FT-IR光谱仪

精准地满足您的需求

请观看布鲁克产品视频,了解为何INVENIO可提供您所需的工具来帮助您完成一切任务。
产品经理Michel Stromereder将带您参观该仪器,并亲自为您演示检测过程。
应用专家Sebastian Ollech将展示INVENIO的全自动检测功能。

什么是FTIR平台?它有哪些功能? 

INVENIO的特色

  • 光谱范围从远红外扩展到紫外/可见光
  • 多达7个软件控制探测器
  • 光谱分辨率优于0.085 cm⁻¹
  • 采用时间分辨光谱技术,精确到纳秒级
  • 提供一个备用样品室,以实现并行设置
  • 能同时进行远红外/中红外检测
  • 支持所有带快速更换支架的采样附件
  • 以直观软件,引导完成工作流

INVNIO扩展选件

  • 三个输出端口和两个输入端口
  • FT-IR成像和显微成像技术
  • 高通量检测
  • 水中蛋白质分析
  • 热重分析
  • 拉曼光谱
  • 光致发光
  • 外部样品室,等等

可靠、高效、多产

INVENIO是一套坚固耐用的全天候工作站,其一系列功能旨在提升您的生产力。该平台包含智能软件监控功能,以及可抵抗振动和热效应的RockSolid™干涉仪,它们都将帮助您获得可靠的检测结果。

 

INVENIO的Transit™功能提供了一个单独的、自带ATR或透射检测探测器的备用检测通道,因而可在任何情况下提供两种即用的实验设置,从而节省时间。主样品室可容纳各种附件,从而支持对几乎任何样品进行分析。使用Quicklock附件支架上的锁定和释放按钮,即使是体积最大的附件也可轻松插入。

 

此外,用户还可轻松地针对不同的实验而更换光学组件,并使用布鲁克FM来执行不间断的分析,该功能可对任一样品室中的MIR和FIR同时进行分析,用户无需作出任何更改。

质量、精度、功能

从精确的光学器件和创新的光束路径,再到耐用的外壳——INVENIO都采用了全新的高品质设计。它具有高信噪比和优于0.085 cm⁻¹的光谱分辨率,再细小的光谱细节亦无处可遁。

 

INVENIO不仅光谱精度高,而且功能强大。它的DigiTect™插槽可方便您轻松地插入所选择的探测器(例如,液氮冷却探测器)。MultiTect™是一组五合一自动化探测器单元,可增加多达5个室温探测器或热稳定探测器。在MutiTect™探测器、DigiTect™插槽和Transit通道之间,INVENIO最多可支持七个内部软件控制探测器。

 

升级后的INTEGRAL™干涉仪配有自动三位分束器更换器,非常适合与MutiTect™配套使用。在此情况下,用户只需点击一下,而无需手动更换光学元件,即可对28000 cm⁻¹到15 cm⁻¹的整个光谱范围进行全自动分析。

直观简便,一目了然

作为面向振动光谱应用的一体式软件解决方案,OPUS让INVENIO的操作变为一种直观简便的体验——无论对于专业用户还是新手用户而言,都是如此。

 

用户可通过选购的嵌入式触摸屏来使用OPUS,以获得简洁直观的检测体验,或者也可通过外部个人电脑来使用OPUS,以便利用高级方法创建工具等更多功能。

 

这两个版本均面向所有技能级别的用户,并提供了庞大的谱库,而且能够为标准任务创建引导式工作流。

需求在变化,INVENIO紧随其后

INVENIO旨在完美地满足用户的分析需求。然而,有时这些需求会发生变化,因而仪器面临的要求也随之发生变化。为应对这些需求变化,INVENIO的所有核心功能均可随时、轻松地进行现场升级。

INVENIO的应用

制药

执行QA/QC、研究药物稳定性、研究蛋白质、区分多晶型、进行片剂成像等——所有这些任务均可通过INVENIO这一台设备来完成。当然,OPUS符合所有主流药典以及21 CFR第11部分的要求。此外,所有数据处理都是安全的,以确保数据的完整性。

聚合物

INVENIO可用于研究聚合物生命周期的任何阶段——从研发到回收。鉴定和表征一切形式的聚合物——包括成品、多层聚合物或涂层。通过扩展INVENIO,可执行TGA分析,以研究聚合物分解过程。

化学

INVENIO已成为化学品验证、检测和表征的首选化学分析工具。使用时间分辨光谱法,可在现实条件下,对催化剂或电池进行反应监测和动力学研究。

材料和设备开发

由于支持整个光谱范围的检测,INVENIO非常适合用于测试新材料、组件和光学器件。除了有机化合物、无机物质和金属有机框架(MOF)以外,INVENIO还可用于对传感器元件和激光器进行彻底表征。

半导体

INVENIO可用于半导体的整个开发过程——从硅片质量控制,到器件开发。扩展附件可添加更多功能,例如,检测光致发光,以及提供FT-IR成像,快速分析大型芯片。

学术研究

凭借诸多先进功能,INVENIO成为研究应用的绝佳工具。例如,研究催化反应的反应机理、研究新型储能技术(光谱电化学、SEC),以及进行基本的手性研究。

FT-IR技术几乎可用于分析一切物品,因而非常适合用于纯度控制和物质验证。这次网络研讨会探讨了FT-IR在各个化学领域的应用(包括作为一种反应监测方法的应用)。
由于能够执行时间分辨光谱检测,FT-IR成为物理应用的强大工具。在这次网络研讨会上,我们探讨了FT-IR的一些应用,例如,动力学研究、泵浦探测实验,以及电子转移研究。
FT-IR是用于分析蛋白质并确定其结构的绝佳工具,因而广泛应用于众多不同的生命科学应用。我们探讨了从食品科学到环境研究的所有应用。

OPUS TOUCH Release 5.1 | INVENIO | Q3 2023

新功能:检测后自动导出数据

检测完成后,样品光谱的检测数据可自动导出为各种文件格式。可用的文件格式包括:数据点表、JCamp、Galactic、Pirouette、XML、Matlab 4、Matlab 5和imzML。

新功能:添加了以应用为中心的新工作流

OPUS-TOUCH 5.1提供了一批新的专用工作流,以便用户更轻松地使用专用附件或特殊评估方法。

发射率检测工作流:用户可根据使用附件A562、A519和A505进行的反射检测的结果来计算发射率。

水包油工作流:用户可按照标准试验方法ASTM D7575,在引导式工作流中,对废水和饮用水中的油脂、柴油尾气处理液、无水氨中的油以及土壤中的油进行量化和报告。

多重检测工作流:根据用户自由选择的光谱数量,自动计算均值。除均值光谱外,还会计算标准差光谱。

新功能:用于设置硬件和实验的图形界面

新增图形用户界面,以直观地引导用户完成实验和检测的设置。

数据导出设置的屏幕截图
多重检测工作流设置的屏幕截图
仪器设置图形用户界面的屏幕截图

OPUS Release 8.7  | INVENIO | Q3 2021

新功能:OVP-X(增强OPUS验证程序)

在OPUS 8.7中,OVP-X继承了INVENIO FT-IR光谱仪当前的OVP程序,具有以下特点:OVP-X负责INVENIO光谱仪的校准、测试和鉴定。它为所有INVENIO测量通道提供全面、可靠且易于校准和鉴定的管理。

  • 更快、更轻松地安装新配件和扩展件
  • 半自动设置测量通道,提高生产率

新功能:在OPUS中实现Python脚本接口

现在可以直接在OPUS中创建和执行Python脚本,并开发基于用户的方法。这允许用户基于Python创建自己的评估例程。由于Python在工业和科学领域被广泛接受为编程标准,因此用户可以对其分析工具集进行高级控制。

  • 直接在OPUS软件中创建和运行Python脚本
  • 开发专用于应用程序的评估例程,并在OPUS中使用它们

新功能:多光谱范围测量功能

本机OPUS功能用于高度自动化的多光谱范围测量,利用INVENIO独特的多光谱技术和可选的带自动分束器变换器的积分干涉仪。进行从FIR到UV/VIS区域的全自动测量,可以选择合并到一个最终光谱中。该软件功能也可用于Vertex系列光谱仪。

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