高速結晶ドメインマッピング
シリコン結晶のスペクトル(Ca含有粘土で固定)。回折ピーク, 灰色の領域としてマーク F1 ..F4)は、特定の結晶方位の指紋です。このパターンがサンプルの別の位置で変化する場合、Siは単結晶ではありません。
結晶構造はX線で分析すると、定期的に回折ピークを発現します。X線回折法(XRD)は、結晶を特徴付け、その向きを識別するための選択方法です。 M4 TORNADO マイクロXRF分光計(焦点を合わせた多色X線ビーム、検出の大きな固体角)の設定は、回折ピーク(ブラッグピーク)の検出を非常に可能性が高いが、定量分析を困難にする。純粋に質的分析。例えば、結晶ドメインの位置、サイズ、境界を見ると、すでにサンプルについて多くのことを伝えています。
M4/M6技術よりも、このような大きなサンプル領域での回折パターンの質的変化を、M4/M6技術よりも空間分解能で示すより速い方法はありません。
大溶接ジョイントにおける結晶ドメイン分布。6.6 x 5 cm² は、20 μm の空間分解能で 8 時間未満で測定します。溶接接合部における結晶領域のサイズと方向は、冷却勾配と相関します。また、異なる鋼は異なる結晶ドメイン特性を示します。
NdGdO3クリスタルでツイニング。ストイチオメトリー(右上の差し込み)と結晶ドメイン分布の同時測定は、製造された結晶の品質管理に不可欠なステップです。