XFlash 6T-60
ナノメートル以下の TEM 解析のための高立体角 SDD
XFlash 6T-60検出器
スリムラインチューブデザインを有した大口径60mm2 EDSで、高立体角と高取り出し角を実現しています。したがって、XFlash® 6T-60は、原子分解能分析、晶帯軸を維持する必要がありサンプルを傾けることができない実験、電子線ダメージを受けやすい試料（グラフェン、ライフサイエンスなど）においても、高効率でX線を取得することが可能です。また、仕様によってはMn Kαで126 eVを保証しており、軽元素領域においても高精度な元素分析を可能としました。
XFlash® 6T-60 の優位点
- 優れたエネルギー分解能（Mn Kαで126 eV、C Kαで51 eV、F Kαで60 eV（CとFは参考値））
- その他の仕様はMn Kαで129 eVです
- 高パルス処理能力（取得X線処理能力）
- 広範囲元素の分析と、軽元素領域でのピーク分離能力（Be - Am要素範囲）
- 超高真空ベローズを標準対応
- 電子顕微鏡像に影響を及ぼす振動源を有しておりません
- 通電後、短時間で使用可能
- ほぼメンテナンスフリーで運用可能
- 低い運用コスト
- スリムラインチューブを有しコンパクトな設計
- 軽量
- ウィンドウなしのバージョンも対応可能
XFlash® 6T-60 の得意分野
- 収差補正電子顕微鏡を含むTEMおよびSTEMにおけるX線収量が低いアプリケーション