XFlash 6T-60
用于 nm 尺度及以下 TEM 分析的大固体角 SDD
XFlash 6T-60 探测器
安装再细管径探测器手指上的 60 mm2 中等有效面积探测芯片可提供较大的固体角和高检出角。因此，XFlash® 6T-60 非常适合 X 射线产量相对较低的应用，例如具有原子分辨率能谱面分析、必须保留晶带轴且样品不能倾斜的实验以及束流敏感标本（例如石墨烯、生命科学）。该探测器还提供非常好的能量分辨率，在 Mn Kα 时为 126 eV。
总结起来，XFlash® 6T-60 具有以下优点：
- 良好的能量分辨率（Mn Kα 为 126 eV，C Kα 为 51 eV，F Kα 为 60 eV）
- 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 焊接波纹管作为标配
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
- 可应要求提供无窗版本
XFlash 6T-60 的应用建议领域包括：
- TEM 和 STEM 上的低 X 射线产量应用，包括球差校正电子显微镜