JA
My Bruker
お問合せ
製品とソリューション
アプリケーション
サービス
ニュースとイベント
キャリア
企業情報
少なくとも2文字を使用してください (現在1文字を使用しています) 。
Languages
Deutsch
English
Español
Français
Italiano
Polski
Português
Русский
中文
日本語
한국어
元素分析装置
ブルカーは100%からppb以下の微量レベルまでを測定する元素分析装置を製造しています。使いやすいソリューションパッケージは、ASTM、DIN、ISO、FDAなどの業界標準や規格を満たすためのプロセス・品質管理にご利用いただけます。研究室から現場までの学術研究において最高の分析精度と正確性を達成します。
蛍光X線分析とは?
Bruker Store
蛍光X線分析装置 (XRF)
固体、粉末や液体の中のサブppmから100%までの元素 (Be-Am) を分析
詳細はこちら
Handheld X-ray Fluorescence Analyzers
ハンドヘルド/モバイル/ポータブル蛍光X線分析装置。現場での迅速な元素分析(Mg-U)。
詳細はこちら
マイクロ蛍光X線
不均質または不規則な形状のサンプルの元素分析(Na-U)
詳細はこちら
全反射蛍光X線
サブppbレベルまでの極微量元素分析
詳細はこちら
電子顕微鏡用分析装置
電子顕微鏡用 EDS、WDS、EBSD、顕微XRFはSEM/TEMの分析能力を拡張し、先端材料研究、プロセス開発、不良解析のための総合的な組成分析・構造解析を可能にします。
詳細はこちら
光発光分析
金属産業の元素分析
詳細はこちら
CS/ONH分析
無機材料中のCSとONHの元素分析
詳細はこちら
中古装置のご案内
ご案内できるXRF装置
メンテナンス済みのデモ機・中古機をご案内しています。詳しくはお問い合わせください。
詳細はこちら
当社の利用可能なOESシステム
Brukerは魅力的な価格で中古およびデモOESシステムを提供しています。すべてのシステムは完全に改装されています。
詳細はこちら
技術の説明
蛍光X線分析とは?
蛍光X線分析計技術は、金属、合金、ポリマー、セラミックス、岩石、石油製品、土壌、塗料などの多種多様な材料の元素分析を提供します。
詳細はこちら