世界中の政府は、違法な商品や危険な商品の持ち込みから国民を守るため、規制を設けています。分析測定技術は、輸入品が準拠しているかどうかを検査官が判断するために容易に利用できます。
XRFは、様々な材料に含まれる規制物質の元素分析を行うための高速で非破壊の技術です。ブルカーの元素分析装置には、ハイスループットのラボ用ED-XRFとWD-XRF、ポイント&シュートのハンドヘルドXRF、マイクロXRF、全反射XRF(TXRF)スペクトロメーターがあります。
マイクロXRFは、材料中の規制元素の密度分布をマッピングし、製品中のどこにその元素が存在するかをよりよく理解することができます。
TXRFは、ICP-OESやAASのような感度を持ち、外部校正や高いメンテナンスコストを必要とせずに、非常に低い濃度レベルの元素分析を行うことができます。TXRF元素分析は、ICPよりもはるかに高速で「環境に優しい」分析法です。
ポータブルXRFは、危険なレベルの規制物質元素を含むあらゆる材料のスクリーニングに最適です。液体、固体、芯、粉体、クリームなど、あらゆる形状の物体を、場所を問わずに分析することができます。 電子部品、装身具、宝石などの小さな試料や、家具などラボに移動できない大きな試料のスクリーニングによく利用されています。
Bruker provides two portable XRF analyzers for fast, straightforward, and nondestructive testing of jewelry for dangerous levels of lead.