Hysitron TI Premier
Hysitron TI Premier Nanoindenter
Le nanoindenteur Hysitron TI Premier de Bruker a été spécialement conçu pour offrir une caractérisation nanomécanique quantitative de pointe dans une plateforme compacte. Basé sur la technologie Hysitron reconnue, le TI Premier offre une large variété de techniques d'essais mécaniques et tribologiques à l'échelle nanométrique. Les mesures de routine nécessaires à l'avancement de la recherche peuvent être réalisées en utilisant les configurations de base polyvalentes du TI Premier, et de nombreuses options de mise à niveau technique sont également disponibles pour répondre à vos besoins futurs en matière de caractérisation.
Configuration de base TI Premier
- Transducteur capacitif avec imagerie SPM in-situ
- Mise en scène automatisée
- Granit de qualité métrologique
- Anti-vibration
- Imagerie optique haute résolution
- Support d'échantillon polyvalent
- Coffret d'isolation environnementale
- Technologie de contrôle avancée
Contrôle et Sensibilité Supérieurs
La technologie propriétaire des transducteurs capacitifs offre des niveaux de bruit de mesure exceptionnels (75 nN, <0,2 nm), une précision et une fiabilité exceptionnelles pendant le processus de nanoindentation. L'actionnement électrostatique utilise peu de courant, ce qui permet d'obtenir des caractéristiques de dérive supérieures qui se traduisent par une acquisition plus rapide des données, une plus grande précision et une meilleure répétabilité.
Capacités de Caractérisation Quantitative
Bruker a développé une grande série de techniques de caractérisation complémentaires permettant une recherche puissante sur les matériaux à l'échelle nanométrique.
Analyse mécanique dynamique : Module de stockage, module de perte et tan delta en fonction de la profondeur de mesure, de la fréquence et du temps.
Tribologie : Coefficients de friction, résistance aux rayures, adhérence des couches minces et usure à l'échelle nanométrique.
Caractérisation des surfaces : Microscopie à sonde à balayage in situ, microscopie optique et cartographie des propriétés mécaniques de surface.
Caractérisation électrique : Résistance de contact électrique in-situ, conductance, transformations de phase et comportement de déformation des matériaux.
Contrôle de l'environnement : Caractérisation nanomécanique et nanotribologique à haute température et dans des atmosphères gazeuses personnalisables.
Superior Control and Sensitivity
Proprietary capacitive transducer technology provides exceptional measurement noise floors (75 nN, <0.2 nm), accuracy, and reliability during the nanoindentation process. Electrostatic actuation uses little current, enabling superior drift characteristics that result in faster data acquisition, higher accuracy, and better repeatability.
Quantitative Characterization Capabilities
Bruker has developed a broad suite of complementary characterization techniques to enable powerful nanoscale materials research.
Dynamic Mechanical Analysis: Storage modulus, loss modulus, and tan delta as a function of measurement depth, frequency, and time.
Tribology: Friction Coefficients, scratch resistance, thin film adhesion, and nanoscale wear.
Surface Characterization: In-situ scanning probe microscopy, optical microscopy, and surface mechanical property mapping.
Electrical Characterization: In-situ electrical contact resistance, conductance, phase transformations, and material deformation behavior.
Environmental Control: Nanomechanical and nanotribological characterization at high temperatures and in customizable gaseous atmospheres.
Kits de Caractérisation Spécifique aux Applications
L'Hysitron TI Premier de Bruker propose des ensembles de caractérisation spécifiques aux applications, adaptés à la nanoindentation quasi-statique, à la caractérisation dynamique, à la caractérisation à haute température et aux essais sur plusieurs échelles de longueur. Ces configurations préconfigurées sont optimisées pour fournir des solutions répondant à vos besoins en matière de recherche et de contrôle des processus.
Package de nanoindentation quasi-statique : Caractérisation nanomécanique optimisée pour les films minces et les matériaux inhomogènes.
Package de caractérisation dynamique : Caractérisation des propriétés mécaniques quasi-statiques et dynamiques sur une large gamme de matériaux, des plus mous aux plus durs.
Package de caractérisation à haute température : Étudiez les propriétés mécaniques et le comportement de déformation en fonction du temps et de la température.
Ensemble d'échelles de longueur multiples : Indentation avec détection de profondeur sur les échelles de longueur nanométrique et micrométrique.
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