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AFM-IR分光法は、AFMと赤外パルスレーザーとの組み合わせにより光の回析限界を超える超微小領域から対象の赤外吸収特性を得る新しい分析技術です。ナノスケールのケミカルイメージング及びスペクトル測定は、試料の化学組成や分散状態を容易に可視化します。また、AFM本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し、化学構造とリンクさせることも可能です。こうした総合的な材料評価により、これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。 本ウェビナーでは、このようなAFM-IRの測定原理と測定例、そしてその最新技術について広範囲にご紹介します。
【こんな方におすすめ】
Featured technologies:
AFM-IR分光法は,AFMと赤外パルスレーザーとの組み合わせにより光の回析限界を超える超微小領域から対象の赤外吸収特性を得る新しい分析技術です。ナノスケールのケミカルイメージング及びスペクトル測定は,試料の化学組成や分散状態を容易に可視化します。また,AFM本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し,化学構造とリンクさせることも可能です。こうした総合的な材料評価により,これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。
本ウェビナーでは,Bruker 製 AFM-IR 装置の最新機種である nanoIR3 について,その測定原理から装置構成,そしてデモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます。
【こんな方におすすめ】
従来の顕微分光技術の分解能に満足出来ない方
コンポジット材料や多層フィルム等の成分分析及び界面の状態を総合的に評価したい方
デバイス上に付着した微小異物の分析・故障解析をしたい方
nanoIR3 がどのような装置が知りたい!
Featured technologies:
Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置 nanoIR3-s は,原子間力顕微鏡上に散乱型 SNOM (Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy) とナノスケール赤外分光顕微鏡(AFM-IR)のシステムを統合した、新しい分析プラットフォームです。
光熱変換現象に基づく試料の熱膨張を分析する AFM-IR と,近接場光を利用した散乱型 SNOM,ナノスケール赤外分光分析において相補的な関係にある両測定モードを備えた nanoIR3-s は,ナノメートルスケールの空間分解能での IR スペクトル測定、ケミカルイメージング、そして、光学特性マッピングを実現し,有機材料から無機材料、生体試料、先端ナノ材料と幅広い材料の分析が可能となります。また,AFM 本来の機能として試料の表面形状やその機械特性を分析し,化学構造とリンクさせることも可能です。こうした総合的な材料評価により,これまで困難とされてきた微小・微量材料の分析を実現します。
本ウェビナーでは,Bruker 製 Nano-FTIR 分光装置の最新機種である nanoIR3-s について,その測定原理から装置構成,そしてデモ機での測定・解析の様子を交えて詳しくご紹介していきます。
【こんな方におすすめ】
・従来の顕微分光技術の分解能に満足出来ない方
・コンポジット材料や多層フィルム等の成分分析及び界面の状態を総合的に評価したい方
・ナノフォトニクス・ナノプラズモニクス材料の光学特性分析をしたい方
・SNOM 装置に興味のある方
・nanoIR3 / nanoIR3-s がどのような装置が知りたい!
Featured technologies:
<こんな方におすすめ>
· ナノスケールのIRイメージングに興味のある方
· 生体内の微小な構造・機能の解析法をお探しの方
· 既存の赤外分光技術の分解能・検出感度にお困りの方
· 溶液中の試料のIR分析に興味のある方
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