NanoWizard® 4 XP纳米科学型原子力显微镜在一个系统中可提供原子分辨率和100µm大扫描范围。它可以实现高达150行/秒的快速扫描,并与先进的光学技术无缝融合。广泛的模式和附件:如环境控制、纳米机械、电学、磁学或热性质的成像,使它成为当今市场上最灵活的纳米科学原子力显微镜系统之一。
NanoWizard 4 XP纳米科学型原子力显微镜系统配备了一系列新功能,包括:
· PeakForce Tapping® 技术,轻松实现成像
· Fast Scanning 快速扫描选项,最高可达每秒150行
· NestedScanner嵌套扫描技术,实现超高速成像。分辨率和稳定性出众,可成像垂直方向高达16.5微米的表面结构
· 新的Tiling Functionality拼接功能,可自动成像大样品区域
· V7软件,拥有基于工作流程的革命性用户界面
· DirectOverlay™ 2 软件,用于与先进的荧光显微镜平台,进行完美的数据集成和关联
· Vortis™ 2 控制器,实现高速信号处理和最低噪音水平。
PeakForce Tapping 技术可实现各类样品或环境下的卓越力控制和操作简单化,无需专业复杂操作设定或探针悬臂调谐。
通过该技术,可精确控制探针与样品之间的相互作用,最小化成像力,从而保护您的探针并确保长期、一致的高分辨率成像。
快速、简便的导航方式定位到可视的兴趣成像区域。DirectOverlay 2 提供了即时导航,可在扫描器范围内的任何位置直接选择测量位置。电机精密平台和 HybridStage™ 免除了 AFM 压电范围的侧向约束,并允许直接移动到选定位置。
为了加速导航定位过程,新的 DirectTiling 功能自动创建大型光学图像概览。多次扫描可以拼接高分辨率图像,构建样本的全面概述。可使用 ExperimentPlanner™ 宏自动化重复或复杂的测量序列。
该图像展示了 PDMS 印刷表面图案,样品由意大利热那亚大学的 Claudio Canale 博士提供[1]。测试样品的光学图像。四个正方形区域标有同心角落图案,内部角落形成一个50微米的正方形,中心有测试图案(在光学图像上不可见)。这样的图像可以通过 DirectOverlay 导入到 SPM 软件中,可以通过单击进行导航,在成像位置之间跨越远大于压电扫描器范围的距离。两个测试图案的 QI Advanced 图像(箭头),包括形貌图像[2] +[4]和黏附力图像[3] +[5]。
电学、电机械或磁性样品,特别是对于松散附着、脆弱或软性样品的表征一直是一项困难的任务。JPK的QI™-Advanced模式功能使这一过程变得简单和直接。 NanoWizard 4 XP纳米科学型原子力显微镜系统支持全面的模式和附件,每个模式和附件都设计成易于操作和满足研究者的个性化需求。许多研究材料性能的实验,包括电学性质等测量,在封闭的环境下测试更优,可测量在控制的惰性气氛下的性能。
材料性质的表征
· 机械性能(弹性、刚度、黏附、变形)
· 电学性能可通过静电力显微镜(EFM)、导电原子力显微镜(CAFM)、开尔文探针显微镜(KPM)、扫描隧道显微镜(STM)进行表征
· 磁性能,可通过磁力显微镜(MFM)进行表征
· 电光性能,可用光电导原子力显微镜进行表征
· 通过扫描热显微镜表征局部热特性。
原位(In-Situ)原子力显微镜(AFM)观察
· 使用高电压PFM进行压电响应显微镜观察
· 使用拉伸台(StretchingStage)在外部载荷下观察样品
· 施加外部磁场
· 电化学及扫描电化学(SECM)
样品环境控制选项:
· 样品加热,室温~300°C
· 样品降温,室温~-35°C
· 使用CryoStage可以将样品冷冻至-150°C
· 可调节样品的湿度
· 适用于各种液体(甚至是腐蚀性液体)的实验
· 可进行气体流控制实验
· 可在手套箱内进行高要求的环境实验
· 具有快速扫描选项,最高可达每秒150行,可用于跟踪动态过程
· 现在已经标配Bruker独有的PeakForce Tapping技术
· 大扫描范围,100 × 100 × 15 µm3,在倒置显微镜上具有原子晶格分辨率
· 全新的基于工作流程的用户界面,符合人体工程学设计,易于操作
· 新增Tiling拼接功能,可与HybridStage一起自动映射大样品区域
· 全新的Vortis 2控制器,具有高速低噪音DAC和尖端位置传感器读取技术
· 高的灵活性和可升级性,拥有广泛的模式和配件
Bruker的生物原子力显微镜使得生命科学和生物物理学领域的研究人员能够在细胞力学和黏附、生物力学、细胞间和细胞表面相互作用、细胞动力学以及细胞形态学等领域进行深入研究。我们收集了一些展示这些应用的图像库。
标准测量模式
成像模式
· 配置PeakForce Tapping模式
· 带有横向力显微镜(LFM)的接触模式
· 具有Phase Imaging™的轻敲模式™
力学测量
· 静态和动态力谱
· 高级力学成像
可选模式
· 快速扫描选项,最高可达每秒150行
· 适用于软样品的快速QI(Advanced mode),以获得量化数据
· 机械性质,如黏附,弹性,刚度,变形
· 导电和电荷分布成像
· 零压力的CPI(接触点成像)
· 分子识别成像,用于结合位点成像
· 带有Q-control和主动增益控制的高级AC模式,例如FM和PM
· 高次谐波成像
· 开尔文探针显微镜,SCM, MFM和EFM(也请参见QI模式)
· 导电AFM(也请参见QI模式)
· STM
· 电学谱模式
· 高电压的压电响应显微镜
· 具有温度控制和光学显微镜的电化学
· 纳米印刷
· 纳米操作
· 纳米压痕
· 扫描热AFM
· 来自Cytosurge的FluidFM®解决方案
· ExperimentPlanner用于设计特定的测量工作流程
· RampDesigner™,用于自定义Clamp和Ramp实验
· 远程实验控制的ExperimentControl功能
· DirectOverlay 2用于AFM和光学显微镜联用
· CELLHEISNION®,TAO™和HybridStage™模块提供了额外的XY或Z样品移动台。
光学系统/配件、电化学解决方案、电学样品表征、环境控制选项、软件模块、温度控制、声学和振动隔离解决方案等。布鲁克为您提供合适的配件,以控制您的样品条件并成功地进行实验。
新的V7软件界面可以指导用户通过工作流程直观地设置实验,即使没有AFM经验的用户也能简单、自信地进行高质量的数据采集。每个设置和操作界面作为优化的桌面,一键将所有重要信息聚焦。
· 屏幕上文本帮助显示
· Aligment和Setup的状态反馈
· 高效的基于任务的实验选择
· 快速访问最喜欢和最近使用的实验设置
· 一键探针校准
· 关键数据的即时预览
· 针多用户平台的用户管理。
Our webinars cover best practices, introduce new products, provide quick solutions to tricky questions, and offer ideas for new applications, modes, or techniques.