AFM 模式

TappingMode

最热门的 AFM 成像模式，专业技术的基石

TappingMode™ 使研究人员能够对无法承受接触模式横向力的脆弱样品进行成像，并可实现远超非接触模式的较快扫描速度。

TappingMode AFM 是布鲁克的一项专利技术，通过使用振荡探针针尖轻敲表面进行形貌成像。悬臂梁的振荡幅度随样品表面形貌而变化，可通过监测这些变化并在z 反馈回路中以将变化保持在最低限度，从而获得形貌图像。

这种热门的 AFM 模式是许多高级模式的基础，如静电力显微镜(EFM)和磁力显微镜(MFM)。

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锑枝晶在石墨表面的形貌。

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布鲁克独家采用的峰值力轻敲技术®正在以每天发表三篇同行评审的论文的速度，帮助研究人员推进新的纳米力学、纳米电学和纳米电化学研究。

TappingMode Probes

Your publication-ready data depends on repeatable probe performance and quality, from one probe to the next. With our tightly controlled nanofabrication, comprehensive quality testing, and AFM expertise, you can be confident that our probes will deliver the results you require, not only for your current applications, but also for the emerging research of tomorrow.