AFM 模式

PeakForce TUNA

可对最脆弱的样品进行最高分辨率的电流成像

PeakForce TUNA™ 是检测脆弱样品(如有机光伏电池、导电纳米管和纳米颗粒)导电性的理想方法。由于 传统的基于接触模式的导电原子力显微镜技术(CAFM)的横向力作用会造成样品损坏或探针针尖污染,导致CAFM受到严重限制,而 PeakForce TUNA 技术克服了这些局限性。PeakForce TUNA 可提供直接、精确的力控制并消除横向力,从而使高灵敏度、高分辨率电流成像成为一种常规。

目前,只需一个模块,用户即可同时获得充分利用整个 fA -μA 范围内的电流测试, 并与PeakForce QNM®获取的定量纳米力学性能成像直接关联,而且还有ScanAsyst® 模式提供的易用性。PeakForce TUNA 还可与环境控制集成,将含氧量和含水量调节至 ppm 级别,以适应最敏感的样品。

PeakForce TUNA 具有以下特性:

  • 可对最脆弱的样品进行最高分辨率的电流成像
  • 在纳米电学测量中可实现无与伦比的可重复性和一致性
  • 显示相关联的纳米力学和纳米电学性能
采用 PeakForce TUNA 获得的一层垂直排列的碳纳米管的高度图(左)和电流图(右)。该样品无法通过接触模式获得成像。图像尺寸 1 μm。

借助多模8的峰力隧道AFM(峰值力TUN卡)模块中的导电原子力显微镜(C-AFM)分析,我们得以了解掺杂半导体的定位特定纳米级电导率。这使我们探索了许多纳米级新材料及其电子特性。过去三年来,我们一直在使用多模式8,我必须说,这个仪器是真正强大和强大的。

印度理工学院(IIT)甘地纳加尔博士

通过将 PeakForce QNM 和 PeakForce TUNA 相结合的应用,我们能够以前所未有的质量和分辨率确定湿度敏感离子体的纳米结构和离子电导率分布。对我们来说,采用这些模式的多模 8 AFM 的多功能性和灵活性为电化学能源应用材料的众多探索开辟了道路。

德国埃斯林根应用科学大学雷纳特·希斯根博士