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接触模式是所有AFM技术的基础,探针针尖与样品表面保持持续的物理接触。当针尖沿表面扫描时,样品的形貌会导致悬臂梁产生垂直弯曲。反馈回路在预设载荷力下保持悬臂弯曲量,并使用反馈响应生成形貌图像。
接触模式适用于材料科学、生物应用和基础研究。该模式也为其它需要针尖与样品直接进行接触的SPM(扫描探针显微)技术奠定了基础。