用近红外技术分析面粉与制粉产品
谷物是全世界大多数人日常营养的基础。面粉与制粉工业在将谷物转化为供人类消费的面粉过程中发挥了重要作用。
小麦和面粉的特性通常需要特定且耗时的分析才能确定在加工过程中的表现。
布鲁克为面粉与制粉工业提供了多种基于FT-NIR光谱的解决方案，用于分析小麦、不同类型面粉以及混合产品。从小型化、易于使用的台式光谱仪到完整的在线监控系统。
即用型近红外模型包可在几秒内给出结果，它与传统测试方法相比，是一种极其经济实惠的解决方案。
分析面粉 - 使用TANGO FT-NIR光谱仪和石英杯底的铝质样品杯
应用领域
在小麦磨粉过程前，需要对小麦的等级及其质量进行鉴定。这样才能获得最大产量和最佳品质的面粉。FT-NIR 光谱可在几秒内监测到水分、蛋白质和硬度等参数。
为了在碾磨之前将小麦调整到标准水平，了解水分对于碾磨者至关重要。蛋白质含量是面粉生产者的关键指标，因为它会影响许多加工特性，例如吸水率或面筋强度。小麦中的灰分含量可表明制粉过程中预期的产值。
研磨前在小麦中加水有助于生产稳定且高质量的面粉。利用FT-NIR光谱仪可以帮助您监测小麦的水分含量，从而优化生产工序和水分的添加量。
确定一种小麦或面粉是否适用于烘焙，可通过一系列流变和化学测试进行评价。FT-NIR 可替代这些耗费大量人力的测试，例如蛋白质含量、面筋拉力测定、延伸性测定，从而大大降低了成本，改善了加工过程。此外，由于 FT-NIR 速度快，因此能够实现大量样品的分析。
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