数据展示选项 - 后处理
分析师经常面临如何最简单最清晰的展示数据的难题。ESPRIT EBSD软件提供了大量数据表示工具来满足这一需求。
子集选择
ESPRIT 为分析师提供了使用不同的条件创建数据子集的选项，从而可以专注于特定需求。子集选择可以应用于许多数据和本页中描述的展示选项：图、直方图、极图和物相列表。子集内含多个操作进行处理，其中包括组合、减法、交集和扩展。数据罩也可以使用。
花样质量图
这是判断测量质量的重要工具。花样质量受采集参数、样品属性的影响。例如物相、晶界、晶格应力以及样品制备。菊池花样图案的花样质量、锐度，在图的每个点都使用亮度编码生成灰度图像。这些图像作为与其他类型图叠加的基础非常有用，因为它们显示微结构特征（如晶粒边界）。
物相图
所有已识别的物相都显示在颜色编码的物相分布图中。
极图
极图是取向数据最常见的表示工具之一。它们显示测量的所有取向中选定极 [hkl] 的分布。
极图提供有关哪些织构强度以及织构组件占主导地位的重要信息。ESPRIT EBSD以前所未有的速度生成极图及其相应的可以 3D 观看的衍射球。
反极图 （IPF）
虽然极图显示晶体取向参照样品台坐标系的结果，但 IPF 将选定的样品台系统轴描述为晶体矢量。由于有许多对称等效向量，因此 IPF 将减少到对称特定的子空间（如右侧图所示）。
ODF 取向分布函数
使用现代 Open-GL 技术可以直接或间接实现 ODF 空间的 2D 切割和 3D 可视化。
IPF 图
IPF 图将本地检测到的取向与单个取向的晶体参考相结合。颜色编码将缩放到IPF上。
欧拉图
Euler 地图根据在 RGB 中编码的 Euler 角度来显示每个点被检测到的晶体取向。
晶粒分析
支持使用取向差和尺寸大小标准来检测晶粒，可选择去除∑3 晶界。晶粒可以根据形状、大小和主轴倾斜度进行分析（在晶粒拉长的情况下）。晶粒图中的晶粒可以用随机颜色进行标示。
晶粒分析中还包括取向差分布分析功能。比如沿着一条线的取向差结果以及取向差分布直方图可以被轻易计算。取向差图可以给出晶粒平均取向（GAM）图、内核平均取向（KAM）图以及参考取向差图。
织构组件
EBSD 的 ESPRIT 支持织构组件图的生成，允许使用彩虹调色板从"理想"取向定义织构组件及其分布。此功能还可用于创建子集。