El analista a menudo se enfrenta al desafío de cómo presentar los datos de manera que las propiedades materiales de interés puedan evaluarse fácilmente. La suite de software ESPRIT para EBSD ofrece un gran número de herramientas de representación de datos para satisfacer esa necesidad.
ESPRIT ofrece al analista la opción de crear subconjuntos de datos utilizando diferentes criterios, lo que permite centrarse en características específicas. Las selecciones de subconjuntos se pueden aplicar a muchos de los datos y las opciones de presentación descritas en esta página: mapas, histogramas, figura de polo y lista de fases. Los subconjuntos se pueden procesar mediante múltiples operaciones, entre ellas unión, resta, intersección y expansión. También se pueden utilizar máscaras.
Esta es una herramienta importante para juzgar la calidad de una medida. La calidad del patrón está influenciada por los parámetros de adquisición, las propiedades de la muestra; por ejemplo fases, límites, tensión de celosía y también por preparación de muestras. La calidad del patrón, la nitidez del patrón Kikuchi, en cada punto del mapa está codificada de brillo para producir una imagen de escala de grises. Estas imágenes son útiles como base para superponerse con otros tipos de mapas, ya que muestran características microestructurales como los límites de grano.
Todas las fases identificadas se muestran en un mapa de distribución de fase codificado por colores.
Las figuras de polo son una de las herramientas de representación más comunes para los datos de orientación. Muestran las distribuciones de los polos seleccionados ,hkl, teniendo en cuenta todas las mediciones de orientación. Las figuras de polo proporcionan información importante sobre la fuerza de la textura y también sobre qué componentes de textura son dominantes. ESPRIT para EBSD genera figuras de polo y su correspondiente esfera de difracción (vista en 3D) en alta resolución y con una velocidad sin precedentes.
Mientras que las figuras de polo muestran orientaciones de cristal con referencia al sistema de coordenadas de etapa, los IPF describen un eje de sistema de etapa elegido como un vector cristalográfico. Puesto que hay muchos vectores equivalentes a la simetría, los IPF se reducen a los subsólocos específicos de la simetría (como se muestra en la figura de la izquierda).
Función de distribución de orientación
Cortes 2D y visualización 3D del espacio ODF, utilizando la moderna tecnología Open-GL para una visualización rápida e interactiva.
Un mapa IPF combina la orientación detectada localmente con la descripción cristalográfica de una única dirección de referencia. La codificación de color se escala al tamaño reducido del IPF.
Mapa de Euler
Un mapa de Euler muestra la orientación detectada en cada punto sobre la base de los ángulos de Euler que están codificados en RGB.
Análisis de granos
Admite la detección de granos mediante criterios de error de desorientación y tamaño, ∑3 los límites se pueden ignorar si se desea. Los granos se pueden analizar con respecto a la forma, el tamaño y la inclinación del eje principal (en el caso de los granos alargados). Los mapas de grano detectados se pueden producir con los granos en colores aleatorios.
También se incluyen características de análisis de distribución de mala conducta. Se puede calcular un perfil de mala consorientación a lo largo de una línea, así como un histograma de distribución de mala consorientación. Los mapas de errorización se pueden mostrar de forma un mapa de errorización promedio de grano, un mapa de errorización promedio del kernel y un mapa de errorización de referencia.
Componentes de textura
ESPRIT para EBSD soporta la generación de mapas de componentes de textura, permitiendo la definición de componentes de textura y su propagación desde una orientación "ideal" utilizando una paleta de arco iris. Esta característica también se puede utilizar para la creación de subconjuntos.