土壤中污染物和毒素的鉴定
SEM-XRF 可以对具有粗糙表面 的 样品执行大面积面分析（HyperMap）。也就是说几乎不需要样品制备，无需任何降解抛磨，可以直接分析样品。这在土壤分析中至关重要，因为任何形式的样品制备（如镶样，抛光或碳涂层）都可能会改变样品。微区XRF可以直接分析土壤样品，如图1所示。这包括主要元素，也包括可能含有污染物或毒素的微量元素或微量矿物相（见图2）。在此示例中，XRF 识别了含有 Pb 和 As 的污染物颗粒。
图1：大面积的X射线图（120毫米x30毫米）土壤（分析参数：管电压Rh 50 kV，阳极电流600μA，像素间距25μm）。从左到右的上行：四个土壤样本的总 X 射线强度图（类似于 BSE 图像，灰色）。从左到右的第二行：K（紫色）和Ca（黄色）。从左到右的第三行：Ti（橙色）和 Mn（蓝色）。从左到右的下行：Fe（红色）和F1（灰色）。
图2：土壤样本分析，确认样本4中存在Pb（右）。 底部图像显示样品中的谱图，确认样品中具有 Pb 和 As。