晶粒统计与工业合金各种属性的相关性

图1.1:花样质量图,描绘了具有粒度双峰分布的镍合金样品的微观结构;结果图是使用安装在 JSM IT200 SEM 上的 eFlash XS EBSD 探测器获得的

EBSD技术最重要的优势之一就是可以输出可靠的晶粒统计信息;例如平均直径大小和分布。这一数据与材料的各种特性比如硬度、强度和可塑性/可塑性相关。 ESPRIT 2 软件使用取向和尺寸标准检测晶粒,并使用面积加权和算术均值等方法自动计算平均等效直径大小。晶粒尺寸和形状统计辅之以多种子集选项,以创建强大的微观结构定量工具,支持科学家和工程师们理解和/或预测材料特性。