XFlash 6T-30
用于常规和球差校正 TEM 的中型 SDD
XFlash 6T-30 探测器
XFlash® 6T-30 是 S/TEM 的探测器，具有最佳的能量分辨率。这种中型 SDD 配有超薄手指，非常适合 EDS 探测器空间不足的情况。多功能 XFlash® 6T-30 可满足所有分析师的需求，从出色的几何条件（最佳检出角和最佳的固体角）到分析性能（轻元素或高计数速率分析）。
总结起来，XFlash® 6T-30 具有以下优点：
- 出色的能量分辨率（Mn Kα 时为 126 eV，C Kα 为 51 eV，F Kα 为 60 eV）
- 其他可用分辨率为 Mn Kα 的 129 eV
- 极高的脉冲负载能力
- 出色的轻元素和低能端检测性能（Be - Am 元素范围）
- 焊接波纹管作为标配
- 简单，无震动设计的冷却系统
- 打开电源后立即可用
- 低运行成本
- 免维护操作
- 小尺寸，包括细管径技术
- 重量轻
- 可应要求提供无窗版本
XFlash® 6T-30建议的应用领域包括：
- TEM 和 STEM 上所有类型的 EDS 分析，包括球差校正电子显微镜