Non-destructive measurement example using SKYSCAN 1272/1275

非破壊観察事例:卓上型X線CTのSKYSCAN 1272/1275の活用

内容

 非破壊での内部構造観察は、近年その需要が高まっており、電子部品、製薬/医療、食品、素材などの幅広い分野における品質管理や研究開発で利用されています。ブルカーではその需要に対応するX線CT(3D X線顕微鏡)のSKYSCANシリーズをラインナップしており、特に卓上型の機種は導入のしやすさで定評があります。

 SKYSCAN 1272は、最小ピクセルサイズ0.35μmの超高分解の測定が可能。また、SKYSCAN 1275は、高速処理が可能で、全自動で最短80秒での測定が可能です。両機種ともに卓上型で導入しやすく、幅広いアプリケーションに対応します。

 本ウェビナーでは、高分解能および高スループットの装置の特長を、アプリケーション事例(USBレシーバー、ICチップ、カプセル剤、フリーズドライ食品、紙おむつ、CFRP等)とともにご紹介します。


2021年6月10日(木)13:00-14:00

本ウェビナーはオンデマンドでご視聴いただけます。

得られる情報

最新のブルカーのX線CT(3D X線顕微鏡)の機能の紹介と、測定可能なサンプルのアプリケーション事例

<キートピックス>

  • X線CT/マイクロCT/3D X線顕微鏡について
  • 非破壊の内部構造観察
  • 測定可能なサンプル、およびその測定事例

プレゼンター

ブルカージャパン株式会社 X線事業部

アプリケーション部

中山 悠

2013年3月 信州大学大学院 修士課程修了

2018年5月 ブルカージャパン株式会社 入社

XRMアプリケーション業務に従事