HTS-XT

Модуль HTS-XT предназначен для осуществления высокопроизводительного скрининга методом ИК-Фурье спектроскопии. Сбор данных, их контроль и анализ осуществляется посредством программного обеспечения OPUS/LAB. Являясь внешним устройством анализа, модуль HTS-XT подсоединяется к различным моделям ИК-Фурье спектрометров Bruker Optics и в зависимости от конфигурации позволяет проводить измерения в среднем, ближнем ИК, а также в видимом диапазоне.

Планшет для образцов соответствует стандартным форматам на  96, 384 или 1536 ячеек. Для осуществления анализа 1-20 µл образца помещают в ячейку и высушивают. Объем образца зависит от его формы, режима измерения и конфигурации планшета. 

Твердые образцы сначала высушивают и уплотняют перед помещением в планшет. Заполненный планшет при помощи моторизированного устройства подается в предварительно осушенный спектрометр. После чего измерение микропланшета осуществляется в автоматическом режиме как на пропускание, так и на отражение, путем перемещения позиции каждого образца в фокус ИК-луча.

HTS-XT использует ПО OPUS/LAB для автоматической регистрации спектров и анализа большого количества образцов. Для количественного анализа нескольких компонентов в сложных системах используют современные методы многопараметрического анализа PLS (Partial Least Squares). 

Для качественного анализа доступны такие алгоритмы анализа как корреляция спектров, PCA (Principal Component Analysis) и ANN (Artifical Neural Networks). Хранение параметров измерения и результатов анализа в logfile позволяет осуществлять перенос данных во внешние программы или системы  LIMS (Laboratory Information Management Systems).

Основным преимуществом ИК-спектроскопии является то, что информация о молекулярной структуре содержится в каждом ИК-спектре. Несмотря на то, что высокопроизводительные методы обычно используют специфические маркеры для анализа определенных параметров, ИК-анализ на микропланшете позволяет получать информацию о молекулярной структуре без их использования. 

ИК-Фурье спектроскопия также позволяет одновременно определять несколько параметров за одно измерение!

Используйте для

• Идентификации микроорганизмов
• Определение путей загрязнения
• Кинетический анализ полимеризации лаковых покрытий и многокомпонентных клеев
• Характеризация клеток (продуценты/непродуценты)
• Идентификация и классификация алмазов по типу
• Анализ почв (классификация по типам и количественным параметрам)