Análise Elementar e Estrutural de Raios X

A Bruker desenvolve e fabrica instrumentos para análise estrutural e elementar nas áreas da investigação de materiais, ciências da vida e controlo de qualidade. As nossas soluções abrangem a Difração de Raios X (XRD) sensível a superfícies e material a granel, a cristalografia biológica e química, a análise de Fluorescência de Raios X (XRF) de energia dispersiva e em comprimento de onda, Microscopia de Raios X 3D (XRM), Espetroscopia de Emissão Ótica (OES) e análise de gases de combustão e fusão.

Os sistemas Bruker enfatizam a modularidade e a flexibilidade. Oferecemos a mais ampla variedade de fontes, óticas, ambientes de amostra e detetores disponível, juntamente com o aconselhamento especializado na configuração do sistema ideal. O sistema básico pode ser reconfigurado ou atualizado para satisfazer requisitos evolutivos.

As nossas soluções são fáceis de operar, através da utilização do TouchControl e da automação de um botão. Construímos instrumentos robustos e compactos para ambientes adversos. A formação profissional e o serviço a nível mundial estão implementados para apoiar os nossos clientes.

Visit the demo facilities in our headquarters in Karlsruhe (Germany) or just take a virtual tour on our showroom to see and learn more about our analytical solutions. If you have any questions, please do not hesitate to contact our team of experts from sales or customer support.

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