브루커가 개척한 나노열 분석(나노TA)은 AFM과 통합되는 모듈로 사용할 수 있습니다. 전 세계 수백 개의 실험실이 나노TA를 사용하여 기존의 열 분석의 한계를 뛰어넘어 다음과 같은 통찰력을 얻을 수 있습니다.
폴리머 블렌드 내의 박막 및 나노스케일 도메인에 대한 Tg 및 Tm 전이 측정
중합체 교차 연결의 공간 적 변화; 코팅의 치료 속도/결함
복합 재료
열 전이(TTM)를 정량화하고 매핑하는 전이 온도 현미경 검사법
장치 고장 분석 및 기타 응용 분야용 열 현미경 검사법(SThM) 스캔
AFM + 기계
시료의 기계적 특성은 지형과 동시에 강성 변화를 매핑하기 위해 접촉 공명 방법을 사용하여 수집할 수 있습니다. 4μm x 8μm 지형 영상 및 3성분 폴리머 블렌드의 강성 맵. 캔틸레버의 접촉 공명을 분석하여 계수의 변동을 측정하는 강성 맵은 세 가지 재료를 명확하게 해결합니다.
나노 기계 및 나노열 특성 매핑
Lorentz 접촉 공명 (LCR)은 폴리머 블렌드에서 구성 요소 선택적 이미징을 단순화합니다. 위: 폴리스티렌(PS) 및 저밀도 폴리에틸렌(LDPE)의 블렌드의 높이(왼쪽) 및 LCR 이미지(가운데, 오른쪽). LCR 이미지는 PS(중앙) 및 LDPE(오른쪽)의 강한 공명에 대응하는 두 개의 상이한 접촉 공진 주파수에서 얻어졌다.
생명 과학
나무 세포벽의 높이(위) 및 로렌츠 접촉 공명 합성 이미지(아래쪽). 하단 이미지는 서로 다른 목재 셀 구성 요소를 강조하기 위해 선택된 세 가지 접촉 공진 주파수에서 얻어진 세 가지 색상 오버레이입니다.
나노 스케일 열 분석(나노TA)
토너 입자의 나노TA 데이터가 있는 AFM 이미지입니다. 입자는 에폭시와 마이크로토메드에 내장되었다. 샘플의 지형은 나노TA를 사용하여 분석 할 수있는 구조의 변화를 보여줍니다. 토너 입자에는 서로 다른 전이 온도를 나타내는 여러 구성 요소(왁스, 수지, 염료 등)가 포함됩니다.
스캐닝 열 현미경 검사법 (SThM)
여기에 표시된 4μm x 8μm 이미지는 탄소 섬유 – 에폭시 복합 샘플에서 afm+ 시스템의 스캐닝 열 현미경 검사법(SThM) 기능을 사용합니다. 시료를 잘라서 연마하여 매끄러운 표면을 형성하였다. 높이 이미지(왼쪽)는 다수의 탄소 섬유를 나타내고, SThM 이미지(오른쪽)는 열전도도의 차이로 인해 두 재료의 프로브 온도 변화를 나타낸다. 이 샘플은 SThM 기술의 높은 측면 분해능 기능을 보여 줍니다.
전이 온도 현미경 검사법(TTM)
폴리(L-젖산) (PLLA)로 구성된 붕대 스페룰라이트의 광학 이미지 및 TTM 맵. 이 TTM 맵은 전동 XY 단계를 사용하여 만들어졌습니다. TTM 맵의 파란색 영역은 비정질 PLLA입니다. 빨간색과 노란색 영역은 결정 영역입니다. 스페룰라이트의 "양파와 같은" 구조는 결정화 과정에서 온도를 앞뒤로 스테핑하여 결정도가 높거나 낮은 영역을 생성함으로써 만들어졌습니다. 도쿄공과대학 모리카와 제이의 샘플 제공.