TXRF 작동 원리는 total reflection X-ray fluorescence 분석 방법을 기반으로합니다. 공랭식 X선 튜브는 다중 레이어 단색기에 의해 좁은 에너지 범위로 감소되는 X선 빔을 생성합니다. 미세 빔은 광택이 나는 검체 캐리어에 매우 작은 각도로 충돌하여 완전히 반사됩니다.
TXRF와 기존 XRF의 차이점은 무엇입니까?
기존의 에너지 분산 XRF 기법과 마찬가지로 X선 빔에 의한 들뜸은 샘플의 요소가 요소 식별을 가능하게 하는 특성 에너지에서 빛을 방출하게 합니다. 원소의 에너지 신호의 크기는 표본 농도를 결정하는 데 도움이 됩니다. 그러나 완전히 반사된 빔으로 샘플을 비추는 TXRF는 샘플 매트릭스의 흡수 및 산란을 감소시킵니다. 그 결과, 형광 수율이 크게 향상되고, 배경 소음이 크게 감소하며, 따라서 미량으로만 발생하는 요소에 대한 민감도가 훨씬 높아지는 등의 이점이 있습니다. 기존 XRF에 비해 TXRF의 또 다른 장점은 낮은 마이크로리터 또는 마이크로그램 범위에서 매우 적은 양의 샘플을 측정할 수 있다는 것입니다.
TXRF는 정량 분석을 위한 박막또는 정성적 분석을 위한 마이크로 단편으로 연마된 시료 캐리어에 제조되는 액체, 분말 및 현탁액을 분석합니다. 액체의 경우, 내부 표준물질과 몇 마이크로리터의 균질 샘플을 샘플 캐리어에 피펫팅하고, 열이나 진공으로 건조시킨 후 분광기에 적재합니다. 식물 조직 및 토양 샘플과 같은 고체는 먼저 건조, 분쇄, 세제 용액에 부유, 희석, 그리고 캐리어에 피펫팅 하기 전에 균질화가 됩니다. 분말, 퇴적물 또는 기타 고형물는 캐리어에 피펫팅하기 전에 순산 용액에서 소화되거나 서스펜션으로 변환될 수 있습니다. 또는 반정량 분석을 위해 건조 검체의 마이크로 입자를 그리스로 캐리어에 가볍게 칠할 수 있습니다.
추적 및 작은 샘플 분석
기존의 XRF에 비해 TXRF는 ppb 범위의 미량 수준의 요소를 측정할 수 있습니다. 절대 질량의 경우, 검출 한계는 어떤 상용 ICP 시스템보다 훨씬 우수한 Picogram 범위에 달합니다.
신속한 분석
전통적으로 추적 및 소규모 샘플 요소 분석에 사용되는 원자 분광법에 비해 TXRF 샘플 준비는 빠르고 쉬우며 위험한 화학 물질의 사용을 위한 실험실 배기 후드가 필요하지 않습니다. 할로겐화물을 포함한 모든 요소를 동시에 측정하며 분석 작업 및 유지 보수 비용이 훨씬 적습니다.
얼마나 자주 calibration을 해야하나요?
TXRF 시스템은 출고 시 보정되어 바로 사용할 수 있습니다. 따라서 알려지지 않은 샘플의 정량화는 갈륨과 같은 내부 표준 원소 추가만 필요합니다.
TXRF는 진공 펌프 또는 냉각 오일이 필요합니까?
아니요! TXRF 분광계는 진공 펌프가 필요하지 않습니다. 검체 캐리어까지의 거리가 짧기 때문에 형광 수율이 매우 높고 공기에 의한 흡수가 매우 낮습니다. 따라서 TXRF 분광계는 매우 콤팩트하고 현장 분석이 가능합니다. 또한 TXRF 분광계는 냉각 유체, 가스 또는 다른 매체를 필요로 하지 않습니다. 미디어나 정교한 랩 인프라가 필요 없는 플러그 앤 플레이 시스템입니다.