ブルカー、生産・研究環境向けの次世代3次元表面形状測定技術を発表

［米国カリフォルニア州サンフランシスコ、2023年1月31日発 ］

　
　SPIE Photonics West 2023展示会において、米国ブルカーコーポレーションは本日、2種の新しい白色光干渉計（WLI）システム、ContourX-1000とNPFLEX-1000光学式プロファイラを発表しました。これらの床置き型プラットフォームシステムは、表面テクスチャ・粗さ・うねりの高速自動測定を可能にします。高速オートフォーカスおよび自動光量調整を備えた新しいワンクリック機能（Advanced Find Surface）は、測定前に手作業での焦点合わせを行う複雑さを解消し、使いやすさと測定結果を得るまでの時間を向上させます。自己適応型測定モード USI（Universal Scanning Interferometry法） とガイド付きで簡素化された VisionXpress インターフェースとの組み合わせにより、このユニークな機能はあらゆる表面で妥協のない測定と高いスループットを実現します。

　ContourX-1000 は、直感的なオペレーションによる自動測定・解析レシピを備えており、半導体や光エレクトロニクス、高度なパッケージング開発、医療機器製造の大量生産設備に最も正確で精密な計測を提供します。NPFLEX-1000は、大型ガントリとスイベルヘッドの組み合わせ設計により、自動車、医療、大規模積層造形分野の精密加工のQA/QCにおいて、大型パーツの難しい局所表面へのアクセスを可能にする独自のゲージング対応ソリューションを提供します。

ブルカーのトライボロジーテスター、高精度触針計、光学計測事業のシニアディレクター兼ゼネラルマネージャーであるサミュエル・レスコは、「ブルカーの光学プロファイラのポートフォリオは、業界をリードする機能性、迅速な測定結果、並外れた使いやすさを長年にわたって実現しています。特に、専門家でないユーザーでも、通常のシステムで数分かかるところを数秒で結果が得られる可能性があることを考えると、この能力はさらに向上しています。」とコメントしています。

※本資料は2023年1月31日（現地時間）に米国ブルカーコーポレーションが発表したプレスリリースの翻訳です。原文は下記をご参照下さい。

▶ 原文はこちら

https://www.bruker.com/en/news-and-events/news/2023/bruker-introduces-next-generation-3d-areal-surface-measurement-technology-for-production-and-research-environments.html

ContourX-1000 は、ブルカー特許のチップ/チルトヘッド、自己校正レーザーリファレンス、パターン認識、レシピの携帯性という業界に特化した組み合わせを特徴としています。Universal Scanning Interferometry法：USI）自己適応型測定モードは、最適な測定モードを自動的に決定し、ガイド付きで簡素化されたVisionXpressインターフェースは、解析品質をユーザーの経験レベルから切り離すことが可能です。このハードウェアとソフトウェアのユニークな組み合わせにより、最良の計測結果を最短時間で得ることができ、研究開発や製造に最大限の安定性とツール間のマッチング機能をもたらします。

NPFLEX-1000 は、ContourX-1000の使いやすさをそのままに、大型のガントリと堅牢なブリッジ構造を採用した製品です。NPFLEX-1000は、対物レンズの下に300mm以上のZスペースを確保し、スイベルヘッドと超作動距離対物レンズにより、究極のサンプルサイズの柔軟性を提供します。さらに、オプションのフォールドミラーにより、サンプルの高スロープ傾斜面や側面へのアクセスも大幅に向上しました。10秒以内の高速自動測定と完全な解析は、生産環境におけるスループットの重要な向上につながります。

本件に関するお問い合わせ
ブルカージャパン株式会社
ナノ表面計測事業部  広報担当
Tel.03-3523-6361 / Fax.03-3523-6364
Email: Info-nano.BNS.JP@bruker.com