Identifiying un solo átomo en el grafeno

No sólo es el arte más alto de EDS para obtener espectros de un solo átomo, sino que también puede proporcionar información nueva valiosa sobre las propiedades de excitación de elementos específicos.

En este caso se analizó simultáneamente una monocapa de grafeno que contiene un solo átomo de silicio utilizando EELS y EDS. Con ambos métodos el átomo podría ser identificado como Si. También se pudo identificar un átomo Pt (datos publicados en [1]; lectura posterior en [2]). El espectro EDS se muestra en la imagen inferior. Teniendo en cuenta la corriente de viga y el tiempo de adquisición utilizado, uno habría esperado aproximadamente el doble de recuentos según los modelos actuales. Dado que la constatación también es coherente con otros elementos, sería interesante seguir investigando.

Aprende más:

[1] Identificación de átomo único por espectroscopia de rayos X dispersiva de energía

Carta física aplicada Volumen 100, Número 15 4101 (2012); Autores: T.C. Lovejoy, Q.M. Ramasse, M. Falke, A. Kaeppel, R. Terborg, R. Zan, N. Dellby,y O. L. Krivanek

[2] Identificación heteroatoma individual con espectroscopia de rayos X (acceso abierto)

Carta física aplicada Volumen 108, Número 16 3101 (2016); Autores: R.M. Stroud, T.C. Lovejoy, M. Falke, N. D. Bassim, G. J. Corbin, N. Dellby, P. Hrncirik, A. Kaeppel, M. Noack, W. Hahn, M. Rohde y O. L. Krivanek