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Dediziertes All-in-One-System, optimiert für die Silizium-Qualitätskontrolle. Tieftemperatur-Verunreinigungsanalyse von Si für die Photovoltaik- und Elektronik.
At-Line-System, optimiert für die FT-IR-Quantifizierung von interstitiellem Sauerstoff in kompletten Silizium Ingots, für die kostensparende QC im frühen Produktionsstadium.