SEM 和 TEM 加热台
布鲁克的PI系列产品能直接测量和观察受热引起的材料转化
对于大多数现代材料，鉴于其可能在非环境温度下加工或使用，仅在室温下测量其力学性能无法满足需求。为了更好地了解在高温或恶劣环境中材料的力学性能，布鲁克开发升级了专为 SEM 和 TEM Series PicoIndenter 仪器设计的样品加热升级选项。
Bruker为Hysitron PI系列仪器提供了两种加热选项，温度最高可达1000°C。通过使用电阻式MEMS加热器实现高达400°C的原位加热。高达800°C和1000°C的原位加热选项由电阻样品加热器和独立探针加热器实现。这可激活用于纳米力学研究的各种变形机制，例如玻璃和聚合物中的脆性-韧性转变。由于加热元件体积小，温升区域能够高度局部化，从而减少系统部件的额外加热，并为力学测试提供高稳定性。系统主动测量温度并对其进行反馈控制，以确保达到所需的值。除了提供高分辨成像观察以外，在扫描电子显微镜内部测试还能利用内部的高真空环境减小样品的氧化。样品加热台和传感器上的水循环模块能减小系统的温漂。
对于 PI 80, PI 85E 和 PI 89 SEM PicoIndenter 仪器，新开发的加热选项可通过温度函数实现对力学性能的高分辨率原位纳米力学表征。此类测试有利于需要在极端操作环境中具有可靠性能的耐高温材料的应用（航空航天、汽车、核能、熔接等）。该系统的特点是具有主动式针尖加热和液冷散热器，能够提高测试温度，同时减少向显微镜室的漂移和热传递。
镍基超合金在1000摄氏度下的微柱压缩测试（上图）和粘结涂层由原位微柱压缩测试获得的应力应变曲线（下图）。
