痕量水平的矿石中元素的鉴定和测定

在SEM上使用微型XRF（也称为SEM XRF）进行详细的元素映射可用于快速识别矿石样品中存在的元素并确定其分布。该应用示例展示了对来自厄尔士山脉地区的含矿样品和来自弗赖贝格附近的含矿样品的快速二维元素分析。 

可以轻松确定厄尔士山脉样品中是否存在有价值的元素，例如银（Ag），铜（Cu），镍（Ni），钴（Co）以及弗莱贝格样品中的锌（Zn）和铅（Pb）。此外，还可以观察到惩罚性元素、微量元素以及可能使矿物加工复杂化的元素，例如厄尔士山脉的砷 （As） 和汞 （Hg） 或弗莱贝格的铁 （Fe） 和镉 （Cd）。由于分析背景低，信噪比高，可以观察到痕量元素，例如汞、铇或铁和镉。这些知识与矿物学成分相结合，使用户能够确定如何有效地加工矿石。 

SEM上的微型XRF分析仪允许以最少的样品制备直接分析切割岩石样品。在本例中，对含矿石样品进行切割，使其具有平坦的表面，并在没有抛光或涂层的情况下进行分析。布鲁克的 QUANTAX 微型 XRF 系统能够在没有电荷效应的情况下分析样品。结果清楚地显示了高价值元素的分布，这些元素使厄尔士山脉地区成为现代历史上采矿活动密集的地区。 

QUANTAX 微型 XRF 中使用的 X 射线源 XTrace 2 使用 50 kV Rh 管，允许用户从银等元素访问高能线，为测量提供更大的信心

使用 QUANTAX 微XRF分析仪进行微-XRF分析是鉴定贱金属元素的理想分析工具，如对厄尔士山脉和弗莱堡地区的这些矿石样品的分析所示。X射线激发为这些元素产生高荧光产率，背景非常低，从而提供了检测痕量水平的能力以及轻松去卷积任何重叠峰的能力。

QUANTAX微型XRF使用50 kV X射线源，能够激发通常无法通过电子束激发检测到的元素的高能X射线线。这反过来又为元素鉴定提供了更大的信心，特别是在可能发生复杂峰重叠的区域。  在这个例子中，Ag（Kα = 22.1）的高能元素线是可以清楚地观察到的。