QUANTAX 75
面向日立TM4000的EDS系统
QUANTAX 75 是专为日立 TM4000 台式显微镜设计的新 EDS 系统。QUANTAX 75 由XFlash® 硅漂移探测器（SDD）组成，其领域具有最佳能量分辨率、小型电子装置和易于使用的 ESPRIT 紧凑型软件。
该系统对从硼（5）到锎（98）的所有材料进行定性和定量分析。除了可以在样品表面的单个点进行成分分析外，QUANTAX 75 还提供强大的线扫描和面分析功能。使用自定义检测器，分析和报告将在数秒内完成。
XFlash 630 H SD 探测器
ESPRIT Compact软件，具有元素面分析、报告、线扫描和光谱（从左到右）。
主要功能
- 高分辨数据采集
- 三种不同的分析模式：对象、线扫描和映射
- 自动/交互式元素识别从硼(5) 开始
- 采集过程中精确量化元素成分
- 将定量结果显示为原子、重量或氧化物百分比
- 任意视野中任意数量的元素（颜色编码浓度分布），包括独特的实时谱峰剥离和背景去除
- 报表生成和打印格式
- 支持 MS® Word 和 Excel 导出结果
- 兼容所有 QUANTAX 70 文件（读取和处理）
- 语言选项： 英语， 德语， 西班牙语， 法语， 俄语， 中文， 日语