MPA II

Выбор метода измерения не всегда очевиден. С FT-NIR спектрометром MPA II у Вас есть уникальная возможность попробовать разные методы и определить оптимальный для конкретной задачи. 

Модульная конструкция MPA II позволяет легко адаптировать анализатор под разнообразные задачи пользователя. Спектрометр можно использовать не только в лабораторных условиях, но так же, благодаря прочному корпусу прибор может быть установлен и на производственной площадке, и на передвижной тележке для большей мобильности. 

Новейшая оптика спектрометра MPA II гарантирует превосходные эксплуатационные характеристики и высокую стабильность работы прибора. 

• Источник света с длительным сроком службы для повышения надежности и снижения эксплуатационных издержек. 
• Долговечный твердотельный лазер для обеспечения высочайшей точности волнового числа.
• Интерферометр RockSolid™, не требующий юстировки, оснащен позолоченными уголковыми зеркалами для обеспечения постоянно высокого качества и превосходной стабильности результатов измерений.
• Детекторы InGaAs с высокой чувствительностью, имеющие линейный отклик на всем диапазоне длин волн, для обеспечения высокой точности и воспроизводимости. 

Состояние всех оптических компонентов, установленных в MPA II, постоянно контролируется интерактивной диагностической системой, которая гарантирует правильное функционирование спектрометра. Каждый раз, когда рабочие характеристики компонента не соответствуют спецификации, пользователь будет немедленно уведомлен об этом.

Мы убеждены в исключительном качестве наших спектрометров MPA II. Именно поэтому мы вы предоставили 10 лет гарантии на движущиеся части интерферометра, а также на твердотельный лазер.

FT-NIR спектрометр MPA II оснащен встроенным диском светофильтров («блок проверки»), на котором размещены контрольные материалы (например, мера волновых чисел BRM 2065) и несколько фильтров для проведения автоматизированных аттестационных испытаний прибора. Программа валидации OPUS (OVP) — это интуитивно понятный пользовательский интерфейс для настройки и выполнения проверок по протоколам OQ и PQ, чтобы убедиться в том, что MPA II работает в пределах технических характеристик, также при и повседневном использовании. Поддерживается широкий спектр внешних контрольных материалов, например, стандарты SRM 1920, SRM 2065 и Labsphere. Процедура OVP соответствует требованиям действующих руководящих документов, например, Фармакопеи США и Европейской Фармакопеи, и всегда информирует пользователя о состоянии прибора.

Главное преимущество FT-NIR спектроскопии - это ее простота и универсальность. Это быстрый, точный и не разрушающий метод для анализа жидких, твёрдых или полутвёрдых образцов, сокращающий расходы за счет уменьшения затраченного времени и отсутствия необходимости в реагентах. Он является альтернативой традиционным методам “мокрой химии” для целого ряда производств, включающих пищевые и комбикормовые, а также химические и фармацевтические производства.

Комплексная поддержка специалистов Bruker помогает выбрать оптимальный метод измерения, а также соответствующие аксессуары и программное обеспечение.

Основные области применения:

• Контроль качества входного сырья;
• Контроль качества на промежуточных стадиях производства;
• Контроль качества конечной продукции;
• Анализ конечного продукта на соответствие установленным стандартам.

Основные области применения MPA II в пищевой и комбикормовой промышленности включают в себя контроль качества молочных и мясных продуктов, напитков, масел, пищевых добавок и ингредиентов для выпечки хлебобулочных изделий. А так же многокомпонентный анализ зерна, семян, комбикормов и фуража. 

FT-NIR спектроскопия это эффективный и недорогой метод анализа для решения целого ряда таких сложных задач, стоящих перед фармацевтической и косметической промышленности, как идентификация входного сырья, тестирование таблеток, контроль процессов сушки и сухого смешения.

FT-NIR спектроскопия широко используется в различных отраслях  химической промышленности, включая нефтехимическую промышленность и производство полимеров. За одно измерение, которое занимает всего несколько секунд, проводится анализ целого комплекса показателей и параметров технологического процесса с высокой точностью.