VERTEX 80/80v

Rozszerzenie zakresu spektralnego

Spektrometry VERTEX 80/80v mogą zostać opcjonalnie wyspożone w komponenty optyczne pozwalające na pokrycie zakresu spektralnego od dalekiej podczerwieni lub THz, przez średnią i bliską podczerwień, aż do UV/VIS. Dzięki prekalibrowanym komponentom optycznym i aktywnie justowanemu interferometrowi UltraScan™, zmiana zakresów jest niezwykle prosta.

BMS-c: Bruker zapewnia wysoce precyzyjną opcję automatycznej zmiany beamsplitterów dostępną dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v.

Automatyczna, zdalnie sterowana wymiana do 4 zainstalowanych beamsplitterów w warunkach próżniowych jest dostępna dla spektrometru próżniowego VERTEX 80v. Kompletne widmo w zakresie od UV/VIS do dalekiej podczerwieni/THz może zostać uzyskane bez konieczności wentylacji spektrometru wymaganej przy manualnej zmianie beamsplitterów.

NOWOŚĆ: Bruker rozszerzył zakres dostępnych beamsplitterów o nowy, szerokopasmowy beamsplitter na zakres dalekiej podczerwieni/THz dla spektrometrów FTIR VERTEX 80/80v. Dla badań R&D półprzewodników i związków nieorganicznych nowy beamsplitter pozwala uzyskać więcej cennych informacji pokrywając zakres powyżej 900 cm^-1 do 5 cm^-1 w jednym pomiarze, a także łączy średnią podczerwień z zakresem FIR/THz.

Rozdzielczość optyczna

Spektrometry VERTEX 80 oraz VERTEX 80v w podstawowej konfiguracji zapewniają rozdzielczość lepszą niż 0.2 cm^-1 (apodyzowana), która jest wystarczająca do większości pomiarów gazów pod ciśnieniem atmosferycznym oraz badań próbek w temperaturze pokojowej. Do zaawansowanych badań niskotemperaturowych np. krystaliczne materiały półprzewodnikowe lub pomiary gazów pod niskim ciśnieniem, dostępna jest rozdzielczość lepsza niż 0.06 cm^-1. Rozdzielczość ta, to najwyższa wartość osiągnięta przy wykorzystaniu komercyjnego spektrometru FTIR. Wysokorozdzielcze widma w zakresie VIS prezentują zdolność rozdzielczą lepszą od 300,000:1.

Wszechstronność

Innowacyjny design optyki zapewnia najszersze możliwości rozbudowy. Próżniowy układ optyczny spektrometru zapewnia najwyższą czułość w zakresie MIR, NIR, FIR bez obawy o maskowanie słabych sygnałów przez parę wodną. Doskonałe wyniki np. w nanotechnologii pozwalają na badania do poniżej 10^-3 monowarstw, przy wykorzystaniu spektrometru próżniowego FT-IR VERTEX 80v. Nie występują praktycznie żadne ograniczenia dotyczące rozbudowy systemu. Spektrometr jest wyposażony w łącznie 5 portów wyjściowych po prawej i lewej stronie oraz na froncie, a także 2 porty wejściowe po prawej stronie i z tył spektrometru. Tak rozbudowane możliwości pozwalają na jednoczesne podłączenie np. źródła synchrotronowego do portu z tyłu systemu, modułu modulacji polaryzacji PMA 50 po prawej stronie, modułu światłowodowego na froncie po prawej stronie, bolometru na froncie po lewej stronie i mikroskopu FT-IR HYPERION po lewej stronie spektrometru.

Seria VERTEX 80 to idealne systemy do wymagających zastosowań naukowo-badawczych.

Skontaktuj się z naszym działem sprzedaży już dziś, aby dowiedzieć się więcej o VERTEX 80/80v!

Wykorzystane technologie są chronione jednym lub większą ilością patentów: US 7034944

Spektrometry VERTEX 80 i VERTEX 80v to systemy do zaawansowanych zastosowań badawczych. Innowacyjna optyka sprawia, że są to najlepsze dostępne spektrometry z opcją przedmuchu i próżniowe. Oferują najszerszy zakres spektralny od UV/VIS (50000 cm^-1) do FIR/THz (5 cm^-1), najwyższa rozdzielczość spektralna i czasową oraz najszersze możliwości rozbudowy. VERTEX 80/80v dzięki najlepszym wykorzystanym technologią jest idealnym rozwiązaniem do wszystkich wymagających zastosowań badawczych.

Badania i rozwój

• Techniki Continuous i Step Scan do pomiarów czasowo-rozdzielczych oraz spektroskopii modulacji amplitudy/fazy
• Rapid, Interleaved i Step Scan do pomiarów z wysoką rozdzielczością czasową (Step Scan / Rapid Scan / Interleaved TRS)
• Charakterystyka uporządkowanych okresowo materiałów mikroskopowych - metamateriałów
• Wysokorozdzielcza spektroskopia gazów z rozdzielczością >0.06 cm^-1
• Oprzyrządowanie do instalacji próżniowych FT-IR beamline
• Metoda stopped-flow do eksperymentów katalizy enzymatycznej
• Zewnętrza adaptacja do pomiarów w UHV
• Spektroelektrochemia FT-IR do badań in-situ powierzchni elektrod i elektrolitów

Farmacja

• Określanie konfiguracji absolutnej cząsteczek (VCD)
  
• Charakterystyka stabilności i zawartości lotnej leków przy wykorzystaniu analizy termicznej (TGA-FTIR)
• Różnicowanie form polimorficznych API w zakresie dalekiej podczerwieni

Polimery i chemia

• Identyfikacja wypełniaczy nieorganicznych w kompozytach polimerowych w dalekiej podczerwieni
• Dynamiczne i reooptyczne badania polimerów
• Oznaczenie związków lotnych i charakterystyka procesów dekompozycji przy użyciu analizy termicznej (TGA-FTIR)
• Monitorowanie i kontrola reakcji (sonda światłowodowa MIR)
• Identyfikacja nieorganicznych minerałów i pigmentów
  

Analiza powierzchni

• Wykrywanie i charakterystyka cienkich i monowarstw
• Analiza powierzchni w połączeniu z modulacją polaryzacji (PM-IRRAS)

Inżynieria materiałowa

• Charakterystyka materiałów optycznych i wysokorefleksyjnych (okna, lustra)
• Badanie ciemnych materiałów i profili głębokościowych za pomocą spektroskopii fotoakustycznej (PAS)
• Charakterystyka emisyjności materiałów

Półprzewodniki

• Oznaczanie zawartości tlenu i węgla w waflach krzemowych
• Pomiary przepuszczalności w niskich temperaturach i fotoluminescencji (PL) płytkich zanieczyszczeń do kontroli jakości

Akcesoria zewnętrzne, źródła i detektory

Spektrometry VERTEX 80/80v wyposażone są w 5 portów wyjściowych oraz 2 porty wejściowe oraz oferują możliwość połączenia ich np. z zewnętrznym laserem i źródłem synchrotronowym. Ponadto, system może zostać rozszerzony o zewnętrzne akcesoria pomiarowe, źródła i detektory. Są to m.in.:

• PMA 50 moduł polaryzacji do VCD i PM-IRRAS
  
• PL II moduł do fotoluminescencji
• RAM II moduł FT-Raman i mikroskop FT-Raman RamanScope III
• TGA-FT-IR
• HYPERION mikroskop FT-IR
  
• HYPERION 3000 system obrazowania FT-IR
  
• HTS-XT
• IMAC moduł do makro obrazowania przy użyciu detektora FPA
  
• Zewnętrzna komora na próbki XSA, próżniowa lub z przedmuchem
• Adaptacja do systemów UHV
• Moduł próżniowy PL/PT/PR
• Niskotemperaturowe kriostaty helowe lub kriogeniczne bez cieczy
  
• Moduł światłowodowy z sondami MIR lub NIR do ciał stałych i cieczy
• Duże sfery integrujące
• Urządzenia do automatycznego próbkowania

• Zewnętrzne źródło FIR Hg
• Unikalny detektor MIR-FIR o szerokim zasięgu
• Beamsplitter Solid State na zakres FIR/THz
  
• Zewnętrzny adapter emisyjny
• Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło MIR
• Zewnętrzne wysokoenergetyczne źródło VIS
• Zewnętrzna 4-pozycyjna komora próżniowa na detektory (do optyki próżniowej)
• Adaptacja bolometru na zakres FIR
• Automatyczny zmieniacz beamsplitterów dla spektrometru VERTEX 80v (BMS-c) (do optyki próżniowej)