最新CMOS検出器を搭載！SKYSCAN 1272 CMOS Editionの実力と測定事例
内容
非破壊での内部構造観察は、電子部品、製薬/医療、食品、素材などの幅広い分野における品質管理や研究開発で利用されています。ブルカーではX線CT（3D X線顕微鏡）のSKYSCANシリーズをラインナップしており、特に卓上型の機種は導入のしやすさで定評があります。
今回ご紹介するSKYSCAN 1272 CMOS Editionは、卓上型で信頼性の高いSKYSCAN 1272プラットフォームをベースに、高効率、高耐久性、大FOVをもつCMOS検出器を搭載した最新モデルです。
卓上型CTで0.45μmのピクセル分解能を実現するその実力と、使いやすさを考えて設計された様々な特徴を、測定例を交えてご紹介いたします。
2022年5月26日（木）13:30-14:15
以下よりご登録の上、ご参加ください。
得られる情報
最新のブルカーのX線CT（3D X線顕微鏡）の機能の紹介と、測定可能なサンプルのアプリケーション事例
＜キートピックス＞
- X線CT/マイクロCT/3D X線顕微鏡について
- 非破壊の内部構造観察
- 測定可能なサンプル、およびその測定事例
プレゼンター
ブルカージャパン株式会社 X線事業部
アプリケーション部
中山 悠
