Basics of XRD for Powder and Bulk Samples
Sample preparation, measurement and data analysis
最先端 ”極” 薄膜材料に対するX線回折ソリューション– 最新型X線回折装置の紹介とともに –
薄膜は数 nm (10-9 m) から数10 μm (10-5 m) の厚さを有する物質で、バルク状態とは異なる物性を示すことから、基礎分野のみならず応用分野からも広く研究されています。材料が薄膜スケールに小さくなると、X線回折 (XRD) においてもサンプル由来の信号減少、下地基板由来の信号増加などの影響により、分析が困難になることがあり、サンプル搭載方法や光学系の選択、サンプルと回折計の最適化といった工程が肝要となります。本ウェブセミナーでは、薄膜XRD分析における課題とそれらの解決方法を示すとともに、測定時に見られる予期せぬ信号の除去方法も併せてご紹介いたします。併せて、特に数100 nm以下の薄膜や10 nmを下回る”極”薄膜領域における機能性薄膜材料に薄膜XRD分析アプローチを適用したアプリケーション事例をご紹介いたします。本ウェブセミナーに先立ち、「X線反射率測定(XRR)の原理・データの見方から解析のノウハウ」を事前にご覧いただくことで、薄膜XRD分析の理解度向上に役立ちます。
This webinar is held in Japanese.