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走査電子顕微鏡(SEM)で用いられるX線分析装置(EDS)は様々な分野の分析で用いられております。この1時間のウエブセミナーではSEM-EDSを用いた最新の分析技術をご紹介するとともに、これまでバルクの試料では分析困難と考えられてきた様々な応用例についてもご紹介させていただきます。
This webinar is held in Japanese.