Soluzioni per semiconduttori

Bruker Semiconductor sviluppa, produce, commercializza soluzioni di metrologia per film sottili, basate sulla nuova tecnologie a raggi X rapida, senza contatto e non distruttiva. Con l'acquisizione da parte di Bruker della Jordan Valley Semiconductors, un nome che è sinonimo di assistenza e supporto al cliente senza uguali a livello internazionale, il 75% dei 25 principali produttori mondiali di semiconduttori si affida agli strumenti di metrologia della Bruker per applicazioni di front-end e back-end, il che include lo sviluppo dei loro film sottili di ultimissima generazione. L'impegno di Bruker per l'innovazione e la tecnologia comporta l'avanzamento continuo nei nuovi sviluppi in metrologia, collezionando numerosi premi e riconoscimenti industriali.

I sistemi Bruker forniscono analisi di simulazione e adeguamento in applicazioni che spaziano dalla caratterizzazione dei materiali dei film sottili C-S all'analisi del substrato del wafer e alla rilevazione dei difetti. I tipi di misurazioni HRXRD, XRR, WA-XRD e XRDI sono completamente supportati, permettendo ai ricercatori, ai tecnici di produzione e agli sviluppatori di processo possibilità senza precedenti. Bruker ha sempre una soluzione progettata in modo specifico per le vostre esigenze di metrologia, che siate un produttore C-S, un centro di R&D o un'accademia, oppure uno stabilimento industriale di ricerca sui materiali.