今回ご紹介するnanoIRは,光の回析限界を超える空間分解能(最小10 nm)で赤外吸収スペクトルや赤外吸収イメージを得ることの出来る分析装置です。光熱変換現象による試料の熱膨張を利用したAFM-IRと,近接場光を利用した散乱型SNOM (Scattering Scanning Near-field Optical Microscopy) ,ナノスケール赤外分光測定において相補的な関係にある両測定モードを駆使することで,有機材料から無機材料、生体試料、先端ナノ材料と幅広い材料のナノ分光分析が可能となります。
本ウェビナーでは両装置の測定原理と特徴,そしてその使い分けを,豊富な測定事例を元にご説明します。