QUANTAX 80

El sistema EDS para el Hitachi FlexSEM1000

QUANTAX 80 es un nuevo sistema EDS especialmente diseñado para el microscopio Hitachi FlexSEM1000. QUANTAX 80 consiste en un detector de deriva de silicio (SDD) XFlash® con la mejor resolución de energía en su campo, una pequeña unidad electrónica y un software ESPRIT Compact fácil de usar.

El sistema realiza análisis cualitativos y cuantitativos de todos los materiales con un rango de elementos que va desde el boro (5) hasta el californio (98). Además del análisis de la composición en puntos individuales en la superficie de la muestra, QUANTAX 80 proporciona potentes funciones de escaneo de línea y mapeo de elementos espectrales. Con el detector personalizado, el análisis y la generación de informes se completan en cuestión de segundos.

Detector XFlash 630 H SD
Software ESPRIT Compact con mapeo, informe, escaneo de línea y espectro (de izquierda a derecha).

Características clave

  • Adquisición de datos de alta resolución
  • Tres modos de análisis diferentes: Objetos, LineScan y Mapping
  • Identificación automática/interactiva de elementos a partir de boro (5)
  • Cuantificación precisa de elementos durante la adquisición
  • Visualización de resultados cuantitativos como porcentaje atómico, de peso u óxido
  • Distribuciones de concentración codificadas por colores (mapas de elementos) para cualquier número de elementos dentro de un campo de visión arbitrario, incluida una separación de picos en vivo única y eliminación de fondo
  • Generación de informes y formato de impresión
  • Exportación de resultados a MS® Word y Excel
  • Compatible con todos los archivos QUANTAX 70 y QUANTAX 75 (lectura y procesamiento)
  • Opciones de idioma: inglés, alemán, español, francés, ruso, chino, japonés