Das Partikel-Modul fügt dem ESPRIT-Mikroanalysepaket umfassende Bildanalysefunktionen hinzu. Das Herzstück dieser Lösung ist die Fähigkeit, jegliche Art von Partikel mittels Materialkontrast erkennen, vermessen, analysieren, quantifizieren zu können und ihre chemische Klassifizierung mithilfe der hohen Durchsatzfähigkeit der XFlash®-Detektoren bereitzustellen.
Die Konfiguration der Partikelerkennung und der chemischen Klassifizierung kann als Methode auf der Festplatte gespeichert werden. Daher kann eine solche Methode für die Feature-Analyse einmal vom Experten eingerichtet und immer wieder vom weniger erfahrenen Benutzer verwendet werden.
Die vollständige Integration des Partikel-Moduls in das ESPRIT-Softwarepaket ermöglicht es dem Anwender, alle Funktionen von ESPRIT in Kombination mit der bekannten Benutzerfreundlichkeit zu nutzen.
Die Integration ermöglicht auch die Automatisierung einer oder mehrerer Messungen über die Jobs-Funktion von ESPRIT. Alle Einstellungen und Methoden können für eine vollautomatische Partikelanalyse gespeichert und geladen werden.