MATRIX-F II
Kontroluj swój proces.
Zoptymalizowana kalibracja osi X dla najwyższej stabilności
Spektrometr procesowy MATRIX-F II
Spektroskopia optyczna jest obecnie bardzo istotną technologią do monitorowania i optymalizacji procesów online. Sondy światłowodowe pozwalają na bezpośrednie obserwowanie procesu bez opóźnień czasowych.
Spektrometr FT-NIR MATRIX-F II umożliwia bezpośrednie pomiary w reaktorach i rurociągach procesowych, co prowadzi do lepszego zrozumienia i kontroli procesu. Jego innowacyjna technologia gwarantuje stałą wysoką jakość wyników, krótsze przestoje i bezpośredni transfer metod. Wszystkie spektrometry procesowe firmy Bruker charakteryzują się solidnością, długotrwałą stabilnością i niskimi kosztami utrzymania.
O naszym doświadczeniu świadczą tysiące instalacji w przemyśle chemicznym, petrochemicznym, polimerowym, w procesach produkcji farmaceutycznej oraz w obszarze produkcji żywności i pasz.
Monitorowanie procesu za pomocą FT-NIR
Obecnie wielu producentów stara się nie tylko wytwarzać produkt końcowy najwyższej jakości, ale także poprawić wydajność produkcji poprzez zastosowanie laboratoryjnej technologii analitycznej w swoich zakładach. Uzyskując większą kontrolę nad procesem produkcyjnym można zoptymalizować wykorzystanie materiałów i zredukować lub wyeliminować produkcję materiałów niespełniających wymagań, unikając w ten sposób ponownego przetwarzania lub kosztów utylizacji.
Zalety analizy FT-NIR w czasie rzeczywistym zostały dobrze poznane. Jednakże, konwencjonalne spektrometry mogą być instalowane tylko w pobliżu procesu, który monitorują, co powoduje, że analizator narażony jest na działania wrogiego warunków środowiskowych takich jak drastyczne zmiany temperatury, kurz i brud. Ponadto, spektrometr musi być umieszczony w trudno dostępnym i często chronionym obszarze.
Zastosowanie sond światłowodowych pozwala na prowadzenie analiz w trudno dostępnych punktach pomiarowych, podczas gdy MATRIX-F umieszczony jest np. w laboratorium. Bruker Optics oferuje kompletne rozwiązania do przeprowadzania różnorodnych analiz w trybie online.
Typowe zastosowania w kontroli procesu obejmują bezpośrednie monitorowanie reakcji chemicznych oraz jakości produktów pośrednich i końcowych:
- Bezpośredni pomiar w reaktorach procesowych, rurociągach lub nad przenośnikami taśmowymi.
- Zdalne pomiary na duże odległości.
- Lepsze zrozumienie i kontrola procesu.
- Idealne narzędzie do określania jednorodności podczas procesów mieszania, stężenia składników chemikaliów i stanu procesów polimeryzacji w różnych gałęziach przemysłu.
Maksymalna użyteczność
MATRIX-F jest jedynym spektrometrem FT-NIR, który umożliwia pomiar próbek metodą kontaktową oraz bezkontaktową przy użyciu tylko jednego instrumentu z w wykorzystaniem technologii światłowodowej:
Sondy światłowodowe: Dostępne są sondy światłowodowe wykorzystujące technikę odbiciową, transflektancji i transmisji o różnych długościach drogi optycznej. Ponadto istnieje możliwość zastosowania procesowych sond przepływowych oraz do projektowania procesów technologicznych. Sondy mogą być wykonane z różnych materiałów takich jak stal nierdzewna lub Hastelloy.
Głowice do pomiarów bezdotykowych: Głowica pomiarowa zawiera źródło wolframowe, które oddziałuję na próbkę. Rozproszone światło jest zbierane i kierowane przez światłowód do spektrometru. W ten sposób można wykonać zdalnie pomiar bezkontaktowy otwierając całą gamę nowych zastosowań. Istnieje możliwość podłączenia, aż do sześciu głowic do jednego spektrometru MATRIX-F.
MATRIX-F II:
Klasyczny spektrometr FT-NIR ze złączem światłowodowym do użytku z celami przepływowymi i klasycznymi sondami do pomiaru ciał stałych i cieczy.
MATRIX-F II emisyjny:
Specjalna wersja spektrometru MATRIX-F II do pomiarów bezkontaktowych z użyciem głowic pomiarowych ze złączem światłowodowym.
MATRIX-F II duplex:
Rozszerzenie klasycznego spektrometru FT-NIR MATRIX-F II do jednoczesnego wykorzystania sond światłowodowych i głowic pomiarowych.
MATRIX-F ex-proof:
MATRIX-F jest również dostępny jako wersja ex-proof,zgodna z wymaganiami ATEX spełniająca następujące normy:
- II 2G Ex px II T6 Gb
- II (1) G [Ex op jest T4 Ga] II C
Zaawansowana technologia
MATRIX-F II to dedykowany spektrometr procesowy FT-NIR charakteryzujący się doskonałą wytrzymałością w trudnych warunkach.
Instrument wykorzystuje najnowocześniejszą optykę, zapewniającą wyjątkową czułość i stabilność, umieszczoną w kompaktowym module. Innowacyjność spektrometru zapewnia stałą wysoką jakość wyników, mniej przestojów, bezpośredni transfer metod oraz możliwość rozwoju nowych zastsowań do czego niezdolne są mniej czułe i mniej precyzyjne instrumenty. Pełna obsługa standardowych protokołów komunikacyjnych zapewnia łatwą integrację.
MATRIX-F II może zostać zainstalowany w laboratorium jako samodzielny system do opracowywania metod, które można następnie przenieść do określonego procesu. Spektrometr dostępny jest jako samodzielny instrument z obudową NEMA 4/IP66 (bryzgoszczelna), ale może być również zamontowany w standardowych 19-calowych szafkach typu "rack" z kontrolowaną temperaturą. MATRIX-F II może być wyposażony w 6-portowy multiplekser światłowodowy.
- Dokładne wyniki pomiarów w ciągu kilku sekund
- Jednoczesny pomiar wielu komponentów
- Nieniszcząca analiza
- Opcjonalnie: wbudowany 6-portowy multiplekser
- Bezpośredni transfer metod
- Wytrzymała konstrukcja
- Łączność Ethernet i standardowe protokoły komunikacyjne
Łatwa konserwacja
MATRIX-F II został zaprojektowany z myślą o niezawodności i łatwej konserwacji. Materiały eksploatacyjne mogą zostać wymienione przez użytkownika bez potrzeby kalibracji. Urządzenie może być szybko serwisowane w celu zminimalizowania czasu przestoju.
Ocena sprawności instrumentu
MATRIX-F II wyposażony jest w zautomatyzowane koło filtrowe, w którym umieszczone są wzorce i filtry do testowania sprawności urządzenia. Program OVP (OPUS Validation Program) wykonuje serię testów, oceniając sprawność spektrometru i zapewniając działanie przyrządu w zakresie specyfikacji – warunek konieczny dla analiz w przemyśle farmaceutycznym.
Łączność
Oprogramowanie CMET oferuje standardowy interfejs przemysłowy (OPC), który umożliwia integrację OPUS w dowolnym środowisku sterowania procesami przy użyciu szerokiej gamy standardowych interfejsów komunikacyjnych i protokołów, w tym 4-20 mA, Modbus, Profibus DP i OPC.
Spektroskopia FT-NIR - materiały dodatkowe
Dowiedz się więcej o naszych produktach i rozwiązaniach FT-NIR, pobierając dostępne materiały.
Obsługa aplikacji
Bruker Optics jest obsadzony przez ekspertów i inżynierów, którzy mają dogłębną wiedzę na temat oprzyrządowania i zastosowań. Nasi specjaliści od produktów są dostępni, aby pomóc Ci w opracowaniu metody zdalnie lub w laboratorium.
Co więcej, Bruker Optics oferuje szereg gotowych do użycia kalibracji, które ułatwiają wejście w świat spektroskopii NIR.
Serwis & Szkolenia
Spektrometry Bruker Optics zostały zaprojektowane tak, aby zapewnić lata niezawodnej pracy bez problemów, ale w przypadku wystąpienia problemu sieć firm i przedstawicieli Bruker na całym świecie jest gotowa szybko odpowiedzieć na Twoje potrzeby. Profesjonalne instalacje i wysoki standard usług po dostawie to zobowiązania, które Bruker Optics podejmuje wobec każdego ze swoich klientów. Zdalna diagnostyka oprócz różnych pakietów umów serwisowych jest dostępna dla kompleksowej pomocy technicznej.
Oprócz regularnych szkoleń dla klientów, można zorganizować specjalne seminaria i lokalne wsparcie zgodnie z Państwa potrzebami.
