테스트 및 표면 측정

3D 광학 프로파일러

3D 표면 측정 및 검사 분야의 세계적인 선두 업체

신속하고 비 접촉식의 3D 광학 프로파일링

브루커는 3D 표면 측정 및 검사 솔루션의 업계 최고 제공업체로, 마이크로 MEMS에서 전체 엔진 블록에 이르는 다양한 크기의 샘플에 대해 동급 최고의 정확도를 가진 빠르고 안정적이며 사용하기 쉬운 비접촉 분석 시스템을 제공합니다. 이 시스템은 R&D, 제조 및 품질 관리 분야의 연구원과 엔지니어에게 다른 계측 시스템에서는 어려운 응용 분야 및 환경에서 정밀한 3D 표면 측정에 필요한 업계 최고의 민감도와 안정성을 제공합니다.

 

당사의 광학 프로파일링 계측 시스템은 10세대에 걸친 독점적인 Wyko® WLI(White Light Interferometry) 기술과 Bruker의 진보를 기반으로 전 세계 실험실 및 생산 환경에서 최첨단 R&D, QA 및 QC를 지원하는 입증된 기록을 보유하고 있습니다.

제품

최고의 3D 광학 프로파일러 알아보기

응용 프로그램

Surface-Independent Metrology with Application-Specific Solutions

Precision Engineering

Keep the surface texture and geometric dimensions of precision-engineered parts within tight specification limits. Our gage-capable measurement systems provide efficient feedback and reporting as you monitor, track, and evaluate processes and assess GD&T conformance.

MEMS and Sensors

Perform high-throughput, highly repeatable etch depth, film thickness, step-height, and surface roughness measurements, as well as advanced critical dimension metrology of MEMS and optical MEMS. Optical profiling can characterize devices throughout the manufacturing process from wafer to final test, and even through transparent packaging.

Orthopedics/Ophthalmics

Obtain precise, repeatable measurements of implant materials and components through the complete product life cycle. Our WLI optical profilers support R&D, QA, and QC analyses, for applications ranging from characterization of surface parameters of lens and injection molds to surface finish verification and wear of medical devices.

Tribology

Measure, analyze, and control the impact of friction, wear, lubrication, and corrosion on material/component performance and lifespans. Determine quantitative wear parameters and perform fast pass/fail inspections on the widest range of shiny, smooth, or rough surfaces.

Semiconductors

Improve yield and reduce costs for both front- and back-end manufacturing processes with automated, non-contact, wafer-scale metrology systems. Perform post-CMP die flatness inspection; bump height, coplanarity, and defect identification and analysis; and measure the critical dimensions of component structures.

Optics

Better understand the root causes of defects and optimize polishing and finishing processes with accurate and repeatable sub-nm roughness measurements. Our non-contact metrology systems enable compliance with increasingly stringent specifications and ISO norms for samples ranging from small aspheric and free-form optics, to optical components with complex geometries, to diffraction gratings and microlenses.

White Light Interferometry

Accurate 3D optical metrology independent of surface characteristics

Universal Scanning Interferometry

Adaptive surface intelligence to capture simultaneous sub-nm surface texture and step heights

Elite Enhanced Imaging

Through-focus high fidelity imaging while maintaining high precision WLI metrology

당사의 3D 광학 프로파일러 웨비나 보기

당사의 웨비나는 모범 사례를 다루고, 신제품을 소개하고, 까다로운 질문에 대한 빠른 솔루션을 제공하고, 새로운 애플리케이션, 모드 또는 기술에 대한 아이디어를 제공합니다.

서비스 및 지원

어떻게 도와드릴까요?

Bruker는 고객과 협력하여 실제 애플리케이션 이슈를 해결합니다. 당사는 차세대 기술을 개발하고 고객이 적합한 시스템 및 액세서리를 선택할 수 있도록 지원합니다. 이러한 협력은 장비가 판매된 후에도 오랫동안 교육 및 확장 서비스를 통해 계속됩니다.

고도로 훈련된 지원 엔지니어, 애플리케이션 과학자 및 주제 전문가 팀은 시스템 서비스 및 업그레이드뿐만 아니라 애플리케이션 지원 및 교육을 통해 생산성을 극대화하기위해 전적으로 최선을 다하고 있습니다.

문의

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